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深圳市藍星宇電子科技有限公司
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自動進樣稀釋模塊ASDM價格：面議- 品牌：IAS
- 產地：亞洲 日本
自動進樣稀釋模塊ASDM專為ICP自動進樣器設計，支持2至1000倍的樣品溶液稀釋，配備兩種型號以適應不同溶液類型。該模塊可自動添加標準溶液，并能同時清洗稀釋探頭及準備下一個稀釋樣品。ASDM提供10
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ASAS II自動化標準添加系統(tǒng)價格：面議- 品牌：IAS
- 產地：亞洲 日本
ASAS II自動化標準添加系統(tǒng)通過自動制備校準標準溶液，提升了電感耦合等離子體（ICP）分析的效率與精度。該系統(tǒng)采用非接觸式光流傳感器和高精度注射泵，實現(xiàn)微量標準溶液的精準添加。其無閥門設計及全氟聚
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氣體電離探測器GED價格：面議- 品牌：IAS
- 產地：亞洲 日本
氣體電離探測器（GED）是一種用于測量氣體中金屬顆粒濃度的技術，尤其適用于半導體行業(yè)中特殊氣體的分析。該系統(tǒng)通過一個高效的膜來交換氣體，使得樣品氣體中的金屬顆粒能在無需預處理的情況下直接引入到電感耦合
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連續(xù)化學樣品檢測實驗室CSI-Lab價格：面議- 品牌：IAS
- 產地：亞洲 日本
化學分析實驗室采用連續(xù)化學采樣檢測系統(tǒng)（CSI）監(jiān)測半導體工藝中的化學品，以檢測微量金屬雜質。該系統(tǒng)使用電感耦合等離子體質譜儀（ICP-MS）進行24/7的連續(xù)監(jiān)測，確?；瘜W品在運輸和更換過濾器過程中
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CSI 連續(xù)化學品檢測系統(tǒng)價格：面議- 品牌：IAS
- 產地：亞洲 日本
CSI 連續(xù)化學品檢測系統(tǒng)：化學敏感儀器監(jiān)測半導體晶圓廠使用的化學物質，通過連續(xù)化學采樣檢測（CSI）系統(tǒng)監(jiān)測微量金屬雜質，以避免器件故障。系統(tǒng)采用電感耦合等離子體質譜儀（ICP-MS）對化學品進行2
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MSAG金屬標準氣霧劑生成系統(tǒng)價格：面議- 品牌：IAS
- 型號：MSGA
- 產地：亞洲 日本
MSAG金屬標準氣霧劑生成系統(tǒng)，是一種用于納米顆粒分析及直接氣體分析的重要工具，尤其適用于電感耦合等離子體質譜法（ICP-MS）。該設備能夠以0至3μL/min的速度將混合金屬標準溶液引入霧化器，確保
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- 品牌：IAS
- 產地：亞洲 日本
LAGM激光剝蝕多通道原子吸收光譜系統(tǒng)采用飛秒激光和電流計鏡，可精確燒蝕 300 毫米晶圓樣品，無需小型封閉腔室。系統(tǒng)配備雙注射器模型 MSAG_DS，支持標準加入法進行定量分析，具備點和面傾斜度、輪
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硅片金屬雜質分析系統(tǒng) Expert價格：面議- 品牌：IAS
- 型號： Expert
- 產地：亞洲 日本
硅片金屬雜質分析系統(tǒng) Expert,全自動汽車掃描系統(tǒng)與真空二次離子質譜法（VPD-ICP-MS）結合，為硅片金屬雜質分析提供了高效的解決方案。系統(tǒng)具備多個型號，包括適用于實驗室和工廠自動化的Expe
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