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深圳市藍星宇電子科技有限公司
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- 品牌：日本理學
- 型號：WaferX 310
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
日本Rigaku X射線熒光分析儀 WaferX 310, 通過X射線以大角度照射在鍍膜的硅片樣品上,產(chǎn)生鍍膜 樣品的相應特征X射線的方法，進而分析測量硅片樣品的 鍍膜厚度。
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TFXRD-300/200 X射線衍射儀價格：面議- 品牌：日本理學
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
日本理學X射線衍射儀 TFXRD-300/200， 適用于Near-Fab Application的無損方式XRD·Mapping Tool有多種光學元件可選的高精度測角儀，用于氮化鎵（GaN)質量管
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- 品牌：日本理學
- 型號：X 射線多晶衍射儀 SmartLab
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
日本理學 XRD 智能 X 射線多晶衍射儀 SmartLab，是當今世界性能的多功能的 X 射線衍射儀，它采用了理學獨創(chuàng)的 CBO 交叉光學系統(tǒng)、自動識別所有光學組件、樣品臺、智能的測量分析軟件 Sm...
日本理學
日本理學株式會社創(chuàng)立于1923年，是世界上研制和生產(chǎn)Ｘ射線科學分析儀器的開拓者之一。理學公司一直致力于研制和開發(fā)X射線科學分析儀器，并為世界科學分析儀器的發(fā)展做出了重要的貢獻。
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