Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測(cè)量?jī)x

Filmetrics F10-HC薄膜厚度測(cè)量?jī)x

Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品介紹：

Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測(cè)量?jī)x是以Filmetrics F20 白光干涉儀膜厚儀為基礎(chǔ)所發(fā)展而來(lái)。F10-HC 薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)獨(dú)特的接觸式探頭大大降低反射干擾的影響，能夠快速的分析薄膜的反射光譜資料并提供測(cè)量厚度，加Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測(cè)量?jī)x軟件的模擬演算法的設(shè)計(jì)，能夠在厚膜中測(cè)量單層與多層(例如：底漆或硬涂層等)。

Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品特點(diǎn)優(yōu)勢(shì)：

• 具備價(jià)格優(yōu)勢(shì)的薄膜測(cè)量系統(tǒng)；

• 具備簡(jiǎn)易的操作系統(tǒng)，新樣板模式功能的F10-HC薄膜厚度測(cè)量?jī)x自動(dòng)通知測(cè)量結(jié)果；

• 自動(dòng)化基準(zhǔn)矯正以及設(shè)置自己的積分時(shí)間；

• 獨(dú)特的接觸式探頭大大降低反射干擾的影響；

Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品測(cè)量原理：

當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時(shí)將會(huì)有部分的光被反射，由于光的波動(dòng)性導(dǎo)致從多個(gè)界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長(zhǎng)光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進(jìn)而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時(shí)也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。

Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品應(yīng)用與膜層范例：

音膜厚度檢測(cè)，通過(guò)反射率信息計(jì)算音膜的厚度測(cè)量，采用接觸式探頭，從而降低背面反射影響，更好的對(duì)膜的凹凸不規(guī)則表面進(jìn)行測(cè)量。

Filmetrics F10-HC薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品參數(shù)：

Filmetrics F10-HC薄膜厚度測(cè)量?jī)x測(cè)量圖：