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Filmetrics F60-t 白光干涉膜厚測量儀
- 品牌:美國Filmetrics
- 型號: F60-t
- 產(chǎn)地:美洲 美國
- 供應(yīng)商報價:面議
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優(yōu)尼康科技有限公司
更新時間:2025-06-19 14:39:35
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銷售范圍售全國
入駐年限第7年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品Filmetrics膜厚測量儀(14件)
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- Filmetrics F60-t 白光干涉膜厚測量儀 核心參數(shù)
產(chǎn)品特點
- Filmetrics F60-t 白光干涉膜厚測量儀就像我們的F50白光干涉膜厚測量儀產(chǎn)品一樣。主要測繪薄膜厚度和折射率。但它增加了許多用于生產(chǎn)環(huán)境的功能。這些功能包括凹槽自動檢測、自動基準確定、全封閉測量平臺、預(yù)裝軟件的工業(yè)計算機,以及可以升級到全自動化晶圓傳輸?shù)臋C型。
詳細介紹
Filmetrics F60-t 白光干涉膜厚測量儀
Filmetrics F60-t 白光干涉膜厚測量儀產(chǎn)品介紹:
Filmetrics F60-t 白光干涉膜厚測量儀就像我們的F50白光干涉膜厚測量儀產(chǎn)品一樣。主要測繪薄膜厚度和折射率。但它增加了許多用于生產(chǎn)環(huán)境的功能。這些功能包括凹槽自動檢測、自動基準確定、全封閉測量平臺、預(yù)裝軟件的工業(yè)計算機,以及可以升級到全自動化晶圓傳輸?shù)臋C型。
Filmetrics F60-t 白光干涉膜厚測量儀特點優(yōu)勢:
自動化薄膜厚度繪圖系統(tǒng),快速定位、實時獲得結(jié)果;
可測樣品膜層:基本上光滑的。非金屬的薄膜都可以測量;
所有系統(tǒng)皆使用直觀的標準分析軟件;
凹槽自動檢測
自動基準確定
全封閉測量平臺
Filmetrics F60-t 白光干涉膜厚測量儀產(chǎn)品測量原理:
當入射光穿透不同物質(zhì)的界面時將會有部分的光被反射,由于光的波動性導(dǎo)致從多個界面的反射光彼此干涉,從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率,可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度(越多的震蕩代表越大的厚度),同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。
Filmetrics F60-t 白光干涉膜厚測量儀產(chǎn)品應(yīng)用:
半導(dǎo)體膜層
顯示技術(shù)
消費電子
派瑞林
光刻膠
OLED
防水涂層
電子產(chǎn)品/電路板
介電層
ITO和TCOs
射頻識別
磁性材料
砷化鎵
空氣盒厚
太陽能電池
醫(yī)學(xué)器械
微機電系統(tǒng)
PVD和CVD
鋁制外殼陽極膜
硅橡膠
Filmetrics F60-t 白光干涉膜厚測量儀產(chǎn)品參數(shù):
波長范圍:
190nm-1340nm
光源:
鎢鹵素燈
光斑大小:
標準1.5毫米(最小可達150μm)
測量精度:
0.02nm
準確度*:取較大者
1nm或0.2%
穩(wěn)定性:
0.05nm
更多參數(shù)可聯(lián)系我們獲取
Filmetrics F60-t 白光干涉膜厚測量儀測量圖:
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技術(shù)文章
波長范圍 | 190nm-1340nm | 光源 | 鎢鹵素燈 |
測量精度 | 0.02nm |
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