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賽默飛 Volumescope 2 冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡SEM

品牌：賽默飛
型號： Volumescope 2
產(chǎn)地：美洲美國
供應(yīng)商報價：￥5000000

上海愛儀通網(wǎng)絡(luò)科技有限公司更新時間：2025-06-16 13:21:38

銷售范圍售全國

入駐年限第4年

營業(yè)執(zhí)照已審核

同類產(chǎn)品SEM 掃描電子顯微鏡(37件)

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為您推薦

產(chǎn)品特點

簡單易用的技術(shù)
通過簡單易操作的技術(shù)對實驗進行控制?？梢灾貜?fù)調(diào)用工作與系統(tǒng)設(shè)置，在采集過程中可以生成多個感興趣區(qū)域。
在采集過程中可視化與導(dǎo)航
在采集期間可以利用Thermo Scientific Amira Live Tracker軟件進行可視化和導(dǎo)航，優(yōu)化/控制結(jié)果。進行無人值守的大體積三維數(shù)據(jù)采集和重構(gòu)。
保護珍貴樣品
對一系列廣泛的樣品類型在每個采集步驟都有驗證過的解決方案；對于容易荷電的樣品可使用低真空探測器進行成像。
輕松快速更換顯微切片機
輕松快速地更換顯微切片機，可以通過使用Thermo Scientific Maps軟件實現(xiàn)自動斷層掃描。

詳細介紹

Volumescope 2 3D掃描電鏡適用于大體積連續(xù)切片成像

Thermo Scientific Volumescope 2 SEM掃描電鏡是先進的連續(xù)切片成像系統(tǒng)。通過易操作的掃描電鏡技術(shù)來推進實驗，且在每個步驟中都有對樣品進行保護的解決方案。

連續(xù)切片成像與多能量反卷積重構(gòu)相結(jié)合，使得SEM對樣品實現(xiàn)大體積成像

在自然背景下揭示細胞和組織的復(fù)雜三維結(jié)構(gòu)對生物學(xué)和軟材料的結(jié)構(gòu)與功能關(guān)系的研究至關(guān)重要。連續(xù)切片SEM（SBF-SEM）是在掃描電鏡的真空艙中對塑料包埋的組織進行原位切片和成像，可實現(xiàn)大體積組織的自動3D重構(gòu)，繼而完成大體積分析。一直以來軸向分辨率都會受到最小切片厚度的限制，現(xiàn)在通過多能量反卷積技術(shù)可以實現(xiàn)各方向相同的分辨率。

通過使用金剛刀對樣品進行原位切片后，可以通過不斷增大電壓對新鮮的切面組織進行多次成像，這些圖像隨后會進行反卷積計算，從而生成多個亞表層圖像構(gòu)成三維圖像的子集。通過重復(fù)這個循環(huán)，Volumescope 2 SEM掃描電鏡可以獲取10nm Z軸分辨率的各向同性數(shù)據(jù)集。

截屏2023-08-10 上午11.24.56.png

揭示聚合物的微觀結(jié)構(gòu)

3D高分辨成像對了解聚合物材料的微觀結(jié)構(gòu)和特性至關(guān)重要。Volumescope 2 SEM掃描電鏡在樣品倉中將聚合物的原位切片與SEM成像全自動地結(jié)合在一起，實現(xiàn)了真正的大體積樣品三維重構(gòu)過程中的各方向分辨率的一致性。通過大體積樣品的可視化可以揭示不同微觀結(jié)構(gòu)對影響材料的整體特性的重要性。例如Volumescope 2 SEM可以重構(gòu)具有代表性的大體積濾膜樣品，獲取準確的傳輸特性模型，從而提升對新一代濾膜性能預(yù)測的準確性。

截屏2023-08-10 上午11.25.41.png

共混聚合物的三維連續(xù)切片成像。圖片顯示了122μmx122μmx10μm體積的完整數(shù)據(jù).右下角區(qū)域的分割圖像解釋了該區(qū)域的顆粒分布。感謝奧地利格拉茨FELMI-ZFE的Armnin Zankel博士提供樣品。

Volumescope 2 3D SEM的性能數(shù)據(jù)

電子光學(xué)系統(tǒng)	高分辨率場發(fā)射掃描電鏡鏡筒高穩(wěn)定性肖特基場發(fā)射槍復(fù)合末端透鏡：靜電、無漏磁、浸沒式磁透鏡復(fù)合透鏡兼具電磁透鏡和靜電透鏡的雙物鏡
離子源壽命	24 個月
自動化	自動烘烤自動啟動無需機械對中自動加熱光闌用戶指導(dǎo)和鏡筒預(yù)設(shè)功能
載物臺	雙載物臺掃描偏轉(zhuǎn)
電子束	連續(xù)電子束電流控制和優(yōu)化光闌束流范圍：1 pA 至 400 nA 在連續(xù)切片成像 SEM 中：50 pA – 3.2 nA 著陸能量范圍：20 eV – 30 keV 加速電壓范圍：200 V – 30 kV 在連續(xù)切片成像 SEM 中：500 V – 6 kV 常規(guī) SEM 高真空成像最佳工作距離下的分辨率在 30 keV STEM 下為 0.8 nm 在 15 keV 下為 0.7 nm 在 1 keV 下為 1.0 nm
樣品倉	內(nèi)寬：340 mm 分析工作距離：10 mm 端口：12
探測器	連續(xù)切片成像探測器 T1 鏡筒內(nèi)低位探測器 VS-DBS：低真空背散射電子探測器 T2 鏡筒內(nèi)中位探測器 Everhart-Thornley SE 檢測器 (ETD) IR-CCD 低真空二次電子檢測器 STEM 3+ 分割式伸縮型探測器測器提供額外檢測器
真空系統(tǒng)	完全無油的真空系統(tǒng) 1 × 220 l/s TMP 1 × PVP-scroll 2 × IGP 樣品倉真空（高真空）<6.3 × 10-6 mbar（泵工作 72 小時后）低真空模式高達 50 Pa，可對不導(dǎo)電樣品進行電荷補償抽真空時間：≤3.5 分鐘
樣品臺	標準多功能樣品臺；以獨特方式直接安裝在載物臺上；容納多達 18 個標準樣品托（直徑 12 mm）、三個預(yù)傾斜樣品托、兩個垂直和兩個預(yù)傾斜樣品臺每個可選排桿能容納 6 個 S/TEM 載網(wǎng) 晶圓及定制樣品臺