掃描電子顯微鏡

ZEM Ultra場(chǎng)發(fā)射臺(tái)式掃描電鏡 ZEM Ultra臺(tái)式掃描電子顯微鏡，繼承了ZEM系列一貫的優(yōu)良傳統(tǒng)，不僅具有快速成像、全自動(dòng)操作等特點(diǎn)，還具備出色的抗震性和穩(wěn)定性。

ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)兼顧樣品形貌表征及元素分析功能，體積小巧，操作簡(jiǎn)便，安裝無(wú)需特殊環(huán)境，只需找一張桌子，供電即可工作。

ZEM系列原位拉伸掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺(tái)式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺(tái)，對(duì)樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過(guò)程中實(shí)時(shí)觀察樣品表面形貌的變化。

永新NSZ-608T系列連續(xù)變倍體視顯微鏡 品種齊全的目鏡和輔助物鏡，豐富的附件可滿足各項(xiàng)功能的擴(kuò)展，特別適合工業(yè)組裝和檢驗(yàn)，以及教學(xué)和基礎(chǔ)研究。

澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測(cè)量或全溫區(qū)測(cè)量功能。

澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，采用全新的O圈輔助密封設(shè)計(jì)，更易封裝液體。實(shí)驗(yàn)中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內(nèi)，池內(nèi)可以承載一個(gè)大氣壓。

澤攸STM-TEM力電一體測(cè)量系統(tǒng) 是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量

澤攸STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量

ZEM15臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，搭配二次電子探測(cè)器、背散射電子探測(cè)器、集成式oxford能譜儀，同時(shí)滿足形貌觀測(cè)及元素分析需求。

ZEM15原位拉伸掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺(tái)式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺(tái)，對(duì)樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過(guò)程中實(shí)時(shí)觀察樣品表面形貌的變化

澤攸ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品，無(wú)重影、拖影，不錯(cuò)過(guò)每一個(gè)細(xì)節(jié)。兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺(tái)（拉伸臺(tái)、加熱臺(tái)、TEC冷臺(tái)等原位測(cè)試系統(tǒng)）

澤攸ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡操作簡(jiǎn)便，僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)光闌。

ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，搭配二次電子探測(cè)器、背散射電子探測(cè)器、1000N原位拉伸樣品臺(tái)。

ZEM20臺(tái)式掃描電微鏡操作簡(jiǎn)便，僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)光闌。 信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品。

ZEM18臺(tái)式掃描電鏡信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品，無(wú)重影、拖影，不錯(cuò)過(guò)每一個(gè)細(xì)節(jié)。

ZEM20臺(tái)式掃描電微鏡操作簡(jiǎn)便，僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)光闌。