TESCAN SOLARIS X 是半導(dǎo)體和材料表征中Z具挑戰(zhàn)性的物理失效分析應(yīng)用的平臺(tái)，具有極高的精度和極高的效率。

TESCAN SOLARIS 是一款鎵離子源的 FIB-SEM 系統(tǒng)，適用于超薄 TEM 樣品制備和其它具有挑戰(zhàn)性的納米加工任務(wù)。

TESCAN AMBER X 是完美結(jié)合了分析型等離子FIB和超高分辨（UHR）掃描電鏡的綜合分析平臺(tái)，能夠同時(shí)提供高效率、大面積樣品刻蝕，多模態(tài)的樣品表征。

TESCAN AMBER 是一款雙束（FIB-SEM）聚焦掃描電鏡系統(tǒng)系統(tǒng)，可以滿(mǎn)足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和學(xué)術(shù)界研究的所有需求。

在低電壓下具有極佳的分辨率和優(yōu)異的性能，尤為適用于納米表征。 TESCAN MAGNA 是一款功能極其強(qiáng)大的分析儀器，可用于表征納米材料的表面以及進(jìn)行微觀分析。

CLARA 是一款應(yīng)用廣泛的多功能掃描電子顯微鏡，是基于成功的S8000 基礎(chǔ)上進(jìn)一步研發(fā)的，其設(shè)計(jì)更能滿(mǎn)足材料科學(xué)的需求，適用于對(duì)各種不同類(lèi)型材料的分析和表征。

TIMA3 LMU/LMH FEG是一款基于場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡設(shè)計(jì)的集成式礦物分析專(zhuān)家，適用于采礦和礦物處理行業(yè)的應(yīng)用。

TESCAN MIRA 具有創(chuàng)新的光學(xué)設(shè)計(jì)，確保在需要時(shí)可以隨時(shí)無(wú)縫地選擇成像或分析條件，而無(wú)需對(duì)鏡筒內(nèi)的任何元件重新進(jìn)行機(jī)械對(duì)中。

TESCAN VEGA 第四代鎢燈絲掃描電子顯微鏡，采用全新的 Essence? 電鏡操控軟件系統(tǒng)，將掃描形貌圖像與元素實(shí)時(shí)分析集成于同一個(gè)掃描窗口中。

ESCAN VEGA COMPACT 秉承了前一代 VEGA 系列電鏡的優(yōu)異性能，是一款入門(mén)級(jí)，但是功能強(qiáng)大的分析型鎢燈絲掃描電鏡。