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ChilerZC209是一臺(tái)對(duì)循環(huán)液進(jìn)行溫度控制并輸出冷熱液的裝置。具有溫度穩(wěn)定性高、溫度范圍廣、故障自診斷、外部通信等豐富功能。采用先進(jìn)的制冷及溫度控制技術(shù)，溫度范圍:-20℃至+90℃℃

MaxTC Power Plus擁有靈活的設(shè)計(jì)，滿(mǎn)足不同封裝及接口需求。Max TC Power Plus用一個(gè)冷熱頭與被測(cè)器件的直接接觸，使被測(cè)器件能精確地達(dá)到所需的溫度。

Hirayama HAST高加速老化試驗(yàn)箱維修，試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴(lài)性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段

日本愛(ài)思佩克Espec高低溫試驗(yàn)箱維修，試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴(lài)性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速暴露產(chǎn)品

ThermoTST GC120氣體制冷機(jī)是一種閉環(huán)制冷系統(tǒng)，設(shè)計(jì)用于將干燥氣體(如氮?dú)猓瑲鍤饣蚩諝?從環(huán)境溫度冷卻到低溫狀態(tài)。

Thermal Control system氣體溫控器,ThermoTST GC80氣體制冷機(jī)是一種閉環(huán)制冷系統(tǒng)，設(shè)計(jì)用于將干燥氣體(如氮?dú)?，氬氣或空?從環(huán)境溫度冷卻到低溫狀態(tài)。

Air chiller System氣體制冷機(jī)，是一個(gè)精確的氣體加熱/制冷溫度控制系統(tǒng)，可以迅速將溫度從-80℃升溫到+200℃，設(shè)計(jì)用于加熱/制冷氣體(氮?dú)?，氬氣?和清潔干燥空氣(CDA)的各種工

Air chiller System氣體制冷機(jī)，是一個(gè)精確的氣體加熱/制冷溫度控制系統(tǒng)，可以迅速將溫度從-80℃升溫到+200℃，設(shè)計(jì)用于加熱/制冷氣體(氮?dú)?，氬氣?和清潔干燥空氣(CDA)的各種工

冷卻系統(tǒng)，設(shè)計(jì)可長(zhǎng)期運(yùn)行在低冷卻溫度，適用于小體積液體的捕獲、冷凍干燥和快速冷卻、LCD數(shù)顯面板，方便易用、體積緊湊、環(huán)保型冷媒、過(guò)壓、過(guò)熱、漏電等多重保護(hù)

導(dǎo)通電阻評(píng)估系統(tǒng) 冷熱沖擊試驗(yàn)箱，系統(tǒng)在低溫、高溫的溫度循環(huán)環(huán)境下，采用4端子測(cè)試法對(duì)焊點(diǎn)、連接器接點(diǎn)等導(dǎo)體進(jìn)行多通道高精度微小電阻連續(xù)測(cè)量，以評(píng)估電子裝配與材料的正確性和可靠性。操作軟件可實(shí)時(shí)自動(dòng)測(cè)

導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng) 高低溫沖擊試驗(yàn)箱，本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求，克服了手工測(cè)量過(guò)程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)了對(duì) PCB 多通道低阻測(cè)試的解決方案。

電阻電容溫度系數(shù)測(cè)試系統(tǒng) ，電阻溫度系數(shù)測(cè)量系統(tǒng)是依據(jù)測(cè)試行業(yè)規(guī)范，集環(huán)境試驗(yàn)參數(shù)控制、電阻性能測(cè)試、保護(hù)評(píng)估控制于一體，可按照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的環(huán)境條件下對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行實(shí)時(shí)、準(zhǔn)確的電阻阻值測(cè)量。系統(tǒng)在預(yù)

Small Burn-in Tester芯片老化測(cè)試，高低溫在線(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線(xiàn)測(cè)試專(zhuān)用設(shè)備。能使用戶(hù)在高低溫條件下對(duì)半導(dǎo)體分立器件、光耦、運(yùn)放、電

(頁(yè)面價(jià)格供參考，具體請(qǐng)聯(lián)系報(bào)價(jià)) 芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)Small Burn-in Tester 高低溫在線(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線(xiàn)測(cè)試專(zhuān)用設(shè)備...

是一種信賴(lài)性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1～1000小時(shí)）并觀察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值變化狀況

HAST 模擬老化壽命加速試驗(yàn)機(jī)，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來(lái)完成的。