半導(dǎo)體生產(chǎn)過程中及測試環(huán)節(jié)的溫度控制，具有溫度穩(wěn)定性高、溫度范圍廣、故障診斷、外部通信等豐富功能的裝置。在半導(dǎo)體制作過程/激光加工機/分析裝置/FPD制造裝置等用途中成果較多。

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應(yīng)用于多層電路板、IC封裝、液晶屏、LED、半導(dǎo)體、磁性材料、NdFeB、稀土、磁鐵等材料的密封性能測試，對上述產(chǎn)品的耐壓力和氣密性進行測試。

Chiller ZL-20A是一臺對循環(huán)液進行溫度控制并輸出冷熱液的裝置。具有溫度穩(wěn)定性高、溫度范圍廣、故障自診斷、外部通信等豐富功能。

適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯 片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速 壽命信賴性試驗，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和 薄弱環(huán)節(jié)。

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應(yīng)用于電子、汽車、航空航天、通信等行業(yè)，特別是用于IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗。

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傳統(tǒng)針測設(shè)備很多已經(jīng)無法滿足測試需求，如：更低溫度需求，高壓大電流，低漏電低噪聲等等。我們基于自身溫控系統(tǒng)的技術(shù)優(yōu)勢，致力于為客戶打造低成本的探針臺CHUCK系統(tǒng)升級方案。

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導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng)搭配 HAST試驗箱，導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng)可與zonglen HAST非飽和高壓加速老化試驗箱配合使用，主要用于產(chǎn)品導(dǎo)通電阻性能驗證。更好的保證您PCB檢測的精度和可靠性。