美國KLA納米力學(xué)測試系統(tǒng) G200

產(chǎn)品介紹：

        所有的納米壓痕試驗(yàn)都取決于精確的加載和位移數(shù)據(jù)，要求對加載到樣品上的載荷有精確的控制。是德科技zui新的第五代G200型納米壓痕儀采用電磁驅(qū)動的載荷裝置，從而保證測量的精確度，獨(dú)特的設(shè)計(jì)避免了橫向位移的影響。

        是德科技zui新的第五代G200型納米壓痕儀的杰出設(shè)計(jì)帶來很多的便利性，包括方便的測試到整個(gè)樣品臺，精確的樣品定位，方便的確定樣品位置和測試區(qū)域，簡便的樣品高度調(diào)整，以及快速的測試報(bào)告輸出。模塊化的控制器設(shè)計(jì)為今后的升級帶來極大的方  便。

        此外，zui新的第五代G200型納米壓痕儀完全符合各種國際標(biāo)準(zhǔn)，保證了數(shù)據(jù)的完整性?？蛻艨梢酝ㄟ^每個(gè)力學(xué)傳感器自主設(shè)計(jì)試驗(yàn)，在任何時(shí)候?qū)ζ溥M(jìn)行切換，同時(shí)整個(gè)設(shè)備占地面積小，適合各種實(shí)驗(yàn)室環(huán)境。