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布魯克原位納米力學(xué)測試系統(tǒng)
- 品牌:德國布魯克
- 型號: Picoindenter
- 產(chǎn)地:歐洲 德國
- 供應(yīng)商報價:面議
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上海爾迪儀器科技有限公司
更新時間:2025-06-13 09:09:07
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品納米壓痕儀(1件)
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詳細介紹
Bruker的PI 系統(tǒng)—PicoIndenter原位納米力學(xué)測試系統(tǒng),是Bruker公司專為掃描和透射電鏡設(shè)計的可以通過視頻捕獲功能實時監(jiān)測測試過程,并同步采集力學(xué)數(shù)據(jù)的定量納米力學(xué)測試設(shè)備。獨特的傳感器設(shè)計使其在整個實驗中具有無可比擬的穩(wěn)定性,受到廣大用戶的好評??梢栽陔婄R中進行原位壓痕、壓縮、彎曲、劃痕、拉伸和疲勞等力學(xué)性能測試;此外,通過升級電學(xué)、加熱模塊,還可研究材料在力、電、熱等多場耦合條件下結(jié)構(gòu)與性能的關(guān)系。
下面是PicoIndenter的技術(shù)優(yōu)勢:
1.布魯克ZG的三板電容式傳感
(1)電鏡中,針尖的靈敏性和精確操控性是原位測試的關(guān)鍵。
PI系統(tǒng)采用壓電陶瓷精細定位和三板電容傳感器精密驅(qū)動探測的技術(shù),使得樣品的原位操控得以實現(xiàn)。BrukerZG的三板電容式傳感器提供靜電式驅(qū)動和電容式位移傳感,大程度降低了熱漂,熱漂移<0.05nm/s,實現(xiàn)了電鏡中真正的定量納米力學(xué)檢測。
(2)同時具備載荷和位移的驅(qū)動和監(jiān)測功能
載荷控制模式可以通過設(shè)定恒定壓力研究材料的蠕變特性,而位移控制模式則在應(yīng)力松弛的研究中更為有效。
2.電鏡視頻與力學(xué)數(shù)據(jù)同步技術(shù)
3.主動阻尼減震的Q-Control
Q-Control集成于Performech先進控制模塊,通過增加主動阻尼,降低了真空環(huán)境中的振動,從而保證了圖像和視頻采集的高分辨率。
4.Performech先進控制系統(tǒng)
內(nèi)部反饋頻率高達78 kHz,確保了載荷/位移函數(shù)可以捕捉到壓痕產(chǎn)生過程中轉(zhuǎn)瞬即逝的變化,這對應(yīng)變速率快的壓痕測試非常適用,如位錯、斷裂起始等,同時能降低噪聲背景(<20nN),從而實現(xiàn)真正可靠的微觀納米尺度測試。
5.多場耦合原位納米力學(xué)測試
(1)電鏡里常規(guī)納米力學(xué)測試
壓痕測試
斷裂測試
拉伸測試
壓縮測試
彎曲測試
納米劃痕
Bruker還提供了耦合的測試模式:
(2)力-熱耦合測試模式
Bruker自行研發(fā)的加熱系統(tǒng)具有400℃和800℃兩種加熱模塊可供選擇,采用電阻式加熱有利于在更大范圍內(nèi)原位研究材料的力學(xué)性能。RTD技術(shù)可確保在真空中具有更好的熱穩(wěn)定性。同時,真空條件中進行高溫測試可防止表面氧化的發(fā)生。此外,還可直接測量及觀察材料的熱致轉(zhuǎn)變過程。
400℃ (for SEM/TEM)
800℃高溫臺 (only for SEM)
鎳基高溫合金室溫和600℃條件下的應(yīng)力應(yīng)變曲線展示了600℃做壓縮實驗時,有很多應(yīng)力突降,正好對應(yīng)于SEM圖中不斷產(chǎn)生的滑移帶。
(3)力-電耦合測試模式
電學(xué)測試模塊是測量納米尺度電接觸電阻的優(yōu)選工具,提供功能強大的原位電學(xué)、力學(xué)及同步力電性能測量。特制導(dǎo)電硼摻雜金剛石探針既可以用于標(biāo)準力學(xué)測試,也可以用于電學(xué)測試。此外,導(dǎo)電壓頭支架允許用戶裝載他們的導(dǎo)電探針,實現(xiàn)樣品大化的表征研究。
Bruker多功能載荷函數(shù)編輯器允許同時進行I-V曲線測量和壓入測試??梢詫?shù)據(jù)輸入到Bruker Tribo Analysis軟件中,提供進一步的數(shù)據(jù)分析。
高電壓:10V 大電流:10 mA
ECM 兩電極測試
E-PTP 四電極測電阻
E-PTP測試模塊采用了在PTP拉伸臺鍍上具有一定圖案的電極,使研究人員在進行拉伸測試的同時,可以輸入電學(xué)信號,來研究動態(tài)拉伸過程中樣品的電學(xué)特性,如電阻等。這對研究電致伸縮材料、壓電材料等非常有效。
(4)力-EBSD連用測試(only for SEM)
PI-88選配樣品傾斜&旋轉(zhuǎn)平臺模塊后可在原先3個自由度(X/Y/Z/)的基礎(chǔ)上新增傾斜和旋轉(zhuǎn)兩個自由度,以用于樣品的精確定位;并可在不破壞真空環(huán)境的條件下,實現(xiàn)與EBSD、FIB的無縫鏈接。節(jié)省了整個測試過程中花費在顯微鏡上的工藝時間,并可使敏感性樣品免于暴露在大氣中。
樣品臺:X-軸: >12 mm Y-軸: >16 mm Z-軸: >8 mm
樣品傾斜&旋轉(zhuǎn)模塊:傾斜范圍: 180° 旋轉(zhuǎn)范圍: 180°
R&T 樣品臺
用EBSD確定壓痕所對應(yīng)的奧氏體和鐵素體的硬度和模量值
(5)動態(tài)力學(xué)測試
動態(tài)力學(xué)是測試粘彈性材料力學(xué)性能的一種有效方法。該模塊可提供頻率高達300 Hz的正弦載荷加載,以評估眾多材料的時間響應(yīng)性。這一技術(shù)簡化了測試裝置,是直接觀察微納結(jié)構(gòu)柱子、粒子、梁、納米纖維以及薄膜材料疲勞性能的理想選擇。
施加振蕩力連續(xù)測量粘彈性和疲勞特性與深度和頻率的函數(shù)
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