布魯克掃描電鏡聯(lián)用 原位納米力學(xué)測試系統(tǒng)PI 89

Hysitron PI 89 掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的非凡成像能力，可以在成像的同時(shí)進(jìn)行定量納米力學(xué)測試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker 領(lǐng)先的電容傳感技術(shù)，繼承了引領(lǐng)市場的第一批商業(yè)化原位 SEM 納米力學(xué)平臺(tái)的優(yōu)良功能。該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動(dòng)態(tài)測試和力學(xué)性能成像等功能。

通過一個(gè)線性編碼器和兩種帶編碼器的旋轉(zhuǎn)/傾斜臺(tái)配置實(shí)現(xiàn)可靠的和可重復(fù)的準(zhǔn)確樣品定位、性質(zhì)成像、原位FIB加工和包括EBSD, EDS, BSE, and TKD在內(nèi)的分析成像。