• <strike id="cseqw"><noscript id="cseqw"></noscript></strike>
  • <strike id="cseqw"></strike>

    儀器網(wǎng)(yiqi.com)歡迎您!

    | 注冊 登錄
    網(wǎng)站首頁-資訊-專題- 微頭條-話題-產(chǎn)品- 品牌庫-搜索-供應商- 展會-招標-采購- 社區(qū)-知識-技術-資料庫-方案-產(chǎn)品庫- 視頻

    產(chǎn)品中心

    當前位置:儀器網(wǎng)>產(chǎn)品中心> 電子電工儀表>電子儀器儀表>四探針測試儀/四探針系統(tǒng)>英國Jandel通用型四探針測試儀(授權經(jīng)銷商)
    收藏  

    英國Jandel通用型四探針測試儀(授權經(jīng)銷商)

    • 品牌:英國jandel
    • 型號: Jandel通用型四探針測試儀
    • 產(chǎn)地:歐洲 英國
    • 供應商報價:面議
    • 廣州市華粵行儀器有限公司 更新時間:2024-11-06 09:45:42

      銷售范圍售全國

      入駐年限第10年

      營業(yè)執(zhí)照已審核

      同類產(chǎn)品

    立即掃碼咨詢

    聯(lián)系方式:400-822-6768

    聯(lián)系我們時請說明在儀器網(wǎng)(www.vietnamtrade.org)上看到的!

    掃    碼    分   享

    詳細介紹

    Jandel公司提供的RM300測試單元結合可調(diào)節(jié)高度支架探頭,可為各種各樣的測量提供解決方案.

    這種組合方式是目前jandel公司的產(chǎn)品.

    該系統(tǒng)可用于測量各種薄層的小尺寸樣本以及直徑300mm高250mm的晶圓錠 (檢測厚樣品之前要咨詢)。



    可測晶片直徑

    D≤250mm,(可選配D≤300mm,無需付費)

    可測晶片厚度

    H≤250mm,(可更厚,請咨詢)

    微動開關

    防止探針不與樣品接觸時的電流流動

    手動控制

    探針接觸和移動的簡單杠桿操作

    裝配簡單

    RM300和四探針探頭通過單線連接

    系統(tǒng)配置

    組成部件:

    1. 1.測試臺一個

    2. 2.可調(diào)節(jié)高度主機一臺

    3. 3.可調(diào)節(jié)高度軸桿一根

    4. 4.四探針探頭一個

    5. 5.連接電纜一根

    設備尺寸:

    可調(diào)節(jié)高度測試臺: W×L×H(mm)250×290×8(320×370×8,可選)

    可調(diào)節(jié)高度探頭組件:W×L×H(mm)60×280×80(60×330×80,可選)

    可調(diào)節(jié)高度的軸桿:D(mm)19;L(mm)200(可定制最高高度到1000mm)



    型號

    針尖角(u)

    壓力(g)

    間距(mm)

    A

    40

    100

    1

    B

    100

    100

    1

    C

    200

    100

    1

    D

    500

    70

    1

    E

    40

    200

    1. 1.591

    F

    40

    100

    1. 0.635

    G

    100

    100

    1. 0.635

    H

    200

    100

    1. 0.635

    A-D型號和E-H型號


    廠商推薦產(chǎn)品

    在線留言

    換一張?
    取消
    精品无码在线,九九精品综合人人爽人妻,亚洲一区在线尤物,伊人网在线18禁
  • <strike id="cseqw"><noscript id="cseqw"></noscript></strike>
  • <strike id="cseqw"></strike>