高溫四探針測試儀

一、高溫四探針測試儀簡介：

   高溫四探針測試儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。

       本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能。

       采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表:本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購。

        雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國AS.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精度.也可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學性能研究等用途。

      采用自主開發(fā)先進的電子護系統(tǒng)，設備的安全性:選用進口熱電偶保定溫度的采集有效值、采用先進的的SPWM電子升壓技術，電壓輸出穩(wěn)定性好。配備高精度電壓、電流傳感器以保證試驗數(shù)據(jù)的有效性。

      搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的白定義功能，可進行電壓、電流、溫度、時間等設置，符合導體、半導體材料與其它新材料測試多樣化的需求。

      高jing準度的輸出與測量規(guī)格，保障檢測結果的品質，適用于新材料數(shù)據(jù)的檢測。例如:多晶硅材料，石墨烯材料、導電功能薄膜材料、半導體材料，也可做為科研院所新材料的耐電弧性材料的性能測試。

       針對測試儀做了多項安全設計，測試過程中有過電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的安全；資料保存機制：當遇到電腦異常瞬時斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗數(shù)所新開啟動后可恢復原有試驗數(shù)據(jù)。

二、高溫四探針測試儀系統(tǒng)功能

1電壓、電流、溫度實時顯示

2自動升壓功能

3循環(huán)自動測試

4升溫速度可控

5自動試驗報表

6過壓、過流、超溫報警

7軟件自動升級

8試驗電壓、電流可調

9電極方便更換

10在線設備診斷

    工步編輯

    可編輯樣品名稱、牌號、試驗條件、試驗單位等；具有試驗電壓設置功能可選擇試驗標準；可選擇是否自定義或自動試驗;截止條件:時間/電壓/電流/溫度。

    語音提示:可選擇是否語言提示功能。

    統(tǒng)計報告

    可自定報格式

    可生出 PDF、CSV、XLS 文件格式

    分析功能:可對測試的數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計。zui大/zui小值、平均值等。