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大功率半導(dǎo)體激光器芯片測試設(shè)備老化系統(tǒng)
- 品牌:普賽斯儀表
- 型號: LDBIxx系列
- 產(chǎn)地:湖北 武漢
- 供應(yīng)商報價:¥1000
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武漢普賽斯儀表有限公司
更新時間:2025-04-29 08:46:00
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銷售范圍售全國
入駐年限第6年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品老化測試系統(tǒng)(7件)
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產(chǎn)品特點(diǎn)
- 針對千瓦級大功率半導(dǎo)體激光器,普賽斯推出國產(chǎn)化極優(yōu)性價比大功率激光器老化測試系統(tǒng)解決方案.設(shè)備可擴(kuò)展至4層結(jié)構(gòu),每層設(shè)計若干路,每路支持1-16只激光器芯片的串聯(lián)老化。大功率半導(dǎo)體激光器芯片測試設(shè)備老化系統(tǒng)認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表
詳細(xì)介紹
大功率半導(dǎo)體激光器老化測試系統(tǒng)解決方案
針對千瓦級大功率半導(dǎo)體激光器,普賽斯推出國產(chǎn)化極優(yōu)性價比大功率激光器老化測試系統(tǒng)解決方案.設(shè)備可擴(kuò)展至4層結(jié)構(gòu),每層設(shè)計若干路,每路支持1-16只激光器芯片的串聯(lián)老化。
圖:LDI系列大功率激光器老化測試系統(tǒng)
系統(tǒng)包括高溫環(huán)境控制裝置、直流或脈沖驅(qū)動電源、收光裝置、光纖、光譜儀(選配)、循環(huán)水冷系統(tǒng)、定制夾具、溫度采集器及上位機(jī)等.其中,電源采用普賽斯全新開發(fā)、自主設(shè)計的HCPL系列大功率激光器測試電源。
60A CW模式,600A QCW模式
值得一提的是,隨著國內(nèi)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的不斷發(fā)展,以及行業(yè)解決“卡脖子”難題的決心,國產(chǎn)化儀器儀表的時代已然到來!武漢普賽斯儀表堅持自主創(chuàng)新,爭做國貨之光!
大功率半導(dǎo)體激光器芯片測試設(shè)備老化系統(tǒng)簡介
普賽斯多路大功率激光器老化系統(tǒng)是專為解決千瓦級大功率半導(dǎo)體激光器芯片及泵浦激光器模塊需要使用窄脈沖大電流測試和老化、芯片發(fā)熱嚴(yán)重等問題而創(chuàng)新開發(fā)推出的一套通用性好、大功率、循環(huán)水冷的老化測試系統(tǒng)。產(chǎn)品具有大電流窄脈沖恒流特性好、電流穩(wěn)定、抗干擾能力強(qiáng),并具有防過沖、防反沖、抗浪涌的穩(wěn)壓及恒流的雙重保護(hù)電路等功能,為大功率半導(dǎo)體激光器芯片及泵浦激光器模塊的老化測試提供了一個完整的解決方案
器件裝載使用抽屜式結(jié)構(gòu),設(shè)備可以靈活擴(kuò)展Z高至4層結(jié)構(gòu),每層設(shè)計若干路,每路支持1-16只激光器的串聯(lián)老化。 普賽斯多路大功率激光器老化系統(tǒng)采用全新開發(fā)、自主設(shè)計的大電流脈沖恒流源,可以兼容CW模式以及QCW模式,支持直流恒流、直流掃描、脈沖直流、脈沖掃描等四種模式。該系統(tǒng)包括高溫環(huán)境控制裝置、直流或脈沖驅(qū)動電源、收光裝置、光纖、光譜儀(選配)、循環(huán)水冷系統(tǒng)、定制夾具、溫度采集器及上位機(jī)等。實現(xiàn)上位機(jī)程序進(jìn)行自動測試,自動采集半導(dǎo)體激光器驅(qū)動電流、激光器電壓、激光器光功率、環(huán)境溫度。實現(xiàn)多單元、高效率、自動監(jiān)控并記錄上傳測試數(shù)據(jù)的一體化測試系統(tǒng)。
產(chǎn)品特點(diǎn)單抽屜最多支持16路8抽屜;各通道互相獨(dú)立;電流回讀,同步自動測量電壓、光功率等數(shù)據(jù);加熱膜加熱,溫控范圍:室溫~125℃;電源抗浪涌設(shè)計;收光裝置水冷;精度±1℃,不同DUT溫度均勻性±2℃;老化數(shù)據(jù)自動記錄與數(shù)據(jù)導(dǎo)出;技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品型號:LDBIxx系列尺寸(寬*高*深):1093mm*2070mm*905mm重量:<500kg系統(tǒng)電源:三相 380V/50Hz,防浪涌工作模式:CW及QCW脈沖寬度:100us~3ms電壓測量:0-100V電壓測量通道數(shù):16通道光電流測量:0-10mA光電流檢測通道數(shù):1路,可支持16路分時復(fù)用產(chǎn)品應(yīng)用大功率LED的LIV測試及產(chǎn)線批量老化大功率激光器的LIV測試及產(chǎn)線批量老化大功率半導(dǎo)體激光器芯片及泵浦激光器模塊的穩(wěn)定性及可靠性測試