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布魯克納米分析部>元素分析儀>EDS、WDS、EBSD、SEM Micro-XRF>德國(guó)布魯克 電子顯微鏡分析儀 QUANTAX ED-XS 
    

    

    

    

    

    


    

      

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    德國(guó)布魯克 電子顯微鏡分析儀 QUANTAX ED-XS
    
 

    


    


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    產(chǎn)品特點(diǎn)
    

    簡(jiǎn)單的儀器提供經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的科學(xué)
    
可靠且經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的 EBSD
    
適配臺(tái)式 SEM
    

    詳細(xì)介紹
    


    產(chǎn)品介紹：
    全
    分析能力
    涵蓋超過(guò) 95% 的應(yīng)用
    e-Flash XS 和 XFlash 630M 探測(cè)器完全集成在 ESPRIT 軟件套件下

    低
    初始投資成本
    為緊湊型，低成本 SEM 設(shè)計(jì)的EBSD
    e-Flash XS EBSD 探測(cè)器可安裝在小倉(cāng)室和價(jià)格實(shí)惠的 SEM 上，價(jià)格實(shí)惠合理

    低
    擁有成本
    故障概率低，停機(jī)時(shí)間短
    e-Flash XS 使用高性能 CMOS 攝像機(jī)。相機(jī)可靠性高，e-Flash XS 探測(cè)器可在幾天內(nèi)更換為現(xiàn)場(chǎng)設(shè)備。
    簡(jiǎn)單的設(shè)備提供經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的科學(xué)


    QUANTAX ED-XS 是一款新產(chǎn)品包，結(jié)合了全新獨(dú)特的 eFlash XS EBSD 探測(cè)器與多功能ESPRIT軟件套件下堅(jiān)固耐用的 XFlash? EDS 探測(cè)器。這種硬件和軟件組合現(xiàn)在終于面向了顯微鏡圈子里更廣大的用戶，提供給用戶更為強(qiáng)大的分析工具。以下是其優(yōu)點(diǎn)：
    • 初始投資成本低很多
    • 停機(jī)時(shí)間非常低：在幾天內(nèi)更換現(xiàn)場(chǎng)探測(cè)器
    • 經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的服務(wù)合同選項(xiàng)
    • 易于使用的 EBSD：無(wú)需校準(zhǔn)并且用戶可自行更換磷屏
    • 安全操作：不使用時(shí)，e-Flash XS 與SEM 倉(cāng)室內(nèi)的其它儀器發(fā)生意外碰撞的可能性為0%

    為什么我需要在臺(tái)式或鎢燈絲電鏡上使用 EBSD？


    • 半自動(dòng)晶粒尺寸和形狀分布
    • 使用子集功能對(duì)微觀結(jié)構(gòu)定量分析
    • 變形晶粒與再結(jié)晶晶粒的面積/體積分?jǐn)?shù)
    • 晶界分析
    • 物相識(shí)別和分布分析
    • 化學(xué)和晶體學(xué)結(jié)果的相關(guān)性
    • 取向分布 + 晶體織構(gòu)分析

    您的分析挑戰(zhàn)是什么？

    不銹鋼微結(jié)構(gòu)特性的表征
    原始金屬和合金的機(jī)械性能通過(guò)各種熱機(jī)械成型工藝進(jìn)行控制，例如在室溫或高溫下進(jìn)行軋制、鍛造、擠出等。


    晶粒統(tǒng)計(jì)與工業(yè)合金各種屬性的相關(guān)性
    EBSD技術(shù)最重要的優(yōu)點(diǎn)之一是可以可靠地輸出晶粒統(tǒng)計(jì)，例如平均直徑大小和分布，這些信息可與材料的各種特性相關(guān)，例如硬度、強(qiáng)度、塑性/可塑性等。


    物相識(shí)別和分布分析
    QUANTAX ED-XS 是一個(gè)完全集成的 EDS 和 EBSD 系統(tǒng)，支持 EDS 或 EBSD 單獨(dú)使用或同時(shí)涉及這兩種技術(shù)的廣泛分析類型。

    

    

    


    

    

    

    

    

    

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