掃描電子顯微鏡

ZEM18臺式掃描電鏡信號采集帶寬高達10M，掃描速度快，視頻模式下實時觀察樣品，無重影、拖影，不錯過每一個細節(jié)。兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺（拉伸臺、加熱臺、TEC冷臺等原位測試系統）

ZEM15C臺式掃描電鏡速度快，信號采集帶寬10M，可以在視頻模式下流暢實時的顯示樣品。只需鼠標就可完成所有操作，不需對中光闌等復雜步驟，聚焦消像散后可直接拍圖。

TESCAN SOLARIS X 是半導體和材料表征中Z具挑戰(zhàn)性的物理失效分析應用的平臺，具有極高的精度和極高的效率。

TESCAN SOLARIS 是一款鎵離子源的 FIB-SEM 系統，適用于超薄 TEM 樣品制備和其它具有挑戰(zhàn)性的納米加工任務。

TESCAN AMBER X 是完美結合了分析型等離子FIB和超高分辨（UHR）掃描電鏡的綜合分析平臺，能夠同時提供高效率、大面積樣品刻蝕，多模態(tài)的樣品表征。

TESCAN AMBER 是一款雙束（FIB-SEM）聚焦掃描電鏡系統系統，可以滿足現今工業(yè)研發(fā)和學術界研究的所有需求。

在低電壓下具有極佳的分辨率和優(yōu)異的性能，尤為適用于納米表征。 TESCAN MAGNA 是一款功能極其強大的分析儀器，可用于表征納米材料的表面以及進行微觀分析。

CLARA 是一款應用廣泛的多功能掃描電子顯微鏡，是基于成功的S8000 基礎上進一步研發(fā)的，其設計更能滿足材料科學的需求，適用于對各種不同類型材料的分析和表征。

TIMA3 LMU/LMH FEG是一款基于場發(fā)射掃描電子顯微鏡設計的集成式礦物分析專家，適用于采礦和礦物處理行業(yè)的應用。

TESCAN MIRA 具有創(chuàng)新的光學設計，確保在需要時可以隨時無縫地選擇成像或分析條件，而無需對鏡筒內的任何元件重新進行機械對中。

TESCAN VEGA 第四代鎢燈絲掃描電子顯微鏡，采用全新的 Essence? 電鏡操控軟件系統，將掃描形貌圖像與元素實時分析集成于同一個掃描窗口中。

ESCAN VEGA COMPACT 秉承了前一代 VEGA 系列電鏡的優(yōu)異性能，是一款入門級，但是功能強大的分析型鎢燈絲掃描電鏡。