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銀牌會(huì)員 第 10 年
北京先鋒泰坦科技有限公司
認(rèn)證：工商信息已核實(shí)
- 產(chǎn)品分類(lèi)
- 品牌分類(lèi)
- 激光器
- 激光測(cè)量
- 光通訊與傳感
- 設(shè)備與光學(xué)元器件
- 光譜儀
- 科學(xué)成像與探測(cè)
- 應(yīng)用系統(tǒng)方案
- 通用儀器設(shè)備
- 光電傳感器
- 光度與色度測(cè)試儀
- 光度與色度測(cè)試系統(tǒng)
- 探測(cè)器與光學(xué)模組計(jì)量
- 精密機(jī)械與自動(dòng)化
- 車(chē)載照明檢測(cè)
- 顯示測(cè)量
- 光度與色度測(cè)試儀
- 光度與色度測(cè)試系統(tǒng)
- （ 德國(guó)） 德國(guó) Opsira
- （ 日本）日本大塚
- （ 丹麥）丹麥 Viso systems
- （ 美國(guó)）美國(guó)Labsphere
- （ 美國(guó)）美國(guó) Radiant
- （ 法國(guó)）法國(guó)Pleiades
- （ 美國(guó)）美國(guó)StellarNet
- （ 美國(guó)）美國(guó)Photo Research
- （ 日本）日本柯尼卡美能達(dá)
- （ 通州區(qū)）北京卓立漢光
- （ 法國(guó)）法國(guó)Pleiades
- （ 美國(guó)）美國(guó)Novanta
- （ 法國(guó)）法國(guó)Pleiades
- （ 海淀區(qū)）北京先鋒科技
- （ 英國(guó)）英國(guó)Photonic Science
- （ 英國(guó)）英國(guó)ETL
- （ 德國(guó)）德國(guó)Sill Optics
- （ 德國(guó)）德國(guó)Laser Components
- （ 韓國(guó)）韓國(guó)ATLAIM
- （ 丹麥）丹麥 Viso
- （ 嘉定區(qū)）上海熒颯
- （ 英國(guó)）英國(guó)Sens-Tech
- （ 英國(guó)）英國(guó)Photek
- （ 英國(guó)）牛津儀器
- （ 英國(guó)）英國(guó)LaserQuantum
- （ 德國(guó)）德國(guó)Laser Components
- （ 英國(guó)）英國(guó)安道爾
- （ 西班牙）西班牙Radiantis
- （ 瑞士）瑞士Menhir Photonics
- （ 瑞士）瑞士Dectris
- （ 日本）日本大塚
- （ 日本）日本santec
- （ 日本）日本Artray
- （ 日本）日本Alnair Labs
- （ 日本）日本ADVANTEST
- （ 以色列）以色列Mantis Vision
- （ 美國(guó)）美國(guó)VERTILON
- （ 美國(guó)）美國(guó)UpTek
- （ 美國(guó)）美國(guó)Swamp Optics
- （ 美國(guó)）美國(guó)StellarNet
- （ 美國(guó)）美國(guó)SRS
- （ 美國(guó)）美國(guó)Radiant
- （ 美國(guó)）美國(guó)Photodigm
- （ 美國(guó)）美國(guó)Photo Research
- （ 美國(guó)）美國(guó)Pacific Gyre
- （ 美國(guó)）美國(guó)OSI
- （ 美國(guó)）美國(guó)OPOTEK
- （ 以色列）以色列OPHIR
- （ 美國(guó)）美國(guó)Moxtek
- （ 美國(guó)）美國(guó)Modu-Laser
- （ 加拿大）加拿大Mightex
- （ 美國(guó)）美國(guó)McPherson
- （ 美國(guó)）美國(guó)LongWave Photonics
- （ 美國(guó)）美國(guó)Laservision
- （ 美國(guó)）美國(guó)Labsphere
- （ 俄羅斯）俄羅斯IPG
- （ 瑞士）瑞士Heliotis
- （ 美國(guó)）美國(guó)FEMTOCHROME
- （ 美國(guó)）美國(guó)ENERGETIQ
- （ 美國(guó)）美國(guó)CVI
- （ 美國(guó)）美國(guó)晶體激光
- （ 美國(guó)）美國(guó)Clark
- （ 美國(guó)）美國(guó)Bristol
- （ 美國(guó)）美國(guó)Block engineering
- （ 美國(guó)）美國(guó)Andover
- （ 美國(guó)）美國(guó)Advanced Optowave
- （ 加拿大）加拿大Sciencetech
- （ 加拿大）加拿大Lumenera
- （ 加拿大）加拿大INO
- （ 芬蘭）芬蘭Spectral Engines
- （ 荷蘭）荷蘭Lambert
- （ 法國(guó)）法國(guó)Quantel
- （ 法國(guó)）法國(guó)Phasics
- （ 俄羅斯）俄羅斯泰德克斯
- （ 美國(guó)）美國(guó)TeraSense
- （ 俄羅斯）俄羅斯TekhnoScan
- （ 俄羅斯）俄羅斯阿維斯塔
- （ 德國(guó)）德國(guó)XITON
- （ 德國(guó)）德國(guó)RGB Lasersystems
- （ 德國(guó)）德國(guó)PROXIVISION
- （ 德國(guó)）德國(guó)EdgeWave
- （ 澳大利亞）澳大利亞MOGLabs
- （ 通州區(qū)）北京卓立漢光
- （ 臺(tái)北）臺(tái)灣UPRtek
- （ 成都）四川雙利合譜
- （ 英國(guó)）Pyreos
- （ 浦東新區(qū)）Fairchild
- （ 美國(guó)）Melles Griot
- （ 浦東新區(qū)）lexel laser
- （ 荷蘭）Quest-Innovations
- （ 法國(guó)）Resolution Spectra System
- （ 美國(guó)）Teledyne Judson
- （ 德國(guó)）Ketek
- （ 浦東新區(qū)）Pleiades
- （ 浦東新區(qū)）Laser Quantum
- （ 浦東新區(qū)）PixelTEQ
- （ 浦東新區(qū)）鐳射/laser-export
- （ 浦東新區(qū)）Universal
- （ 浦東新區(qū)）Advanced Optowave
- （ 浦東新區(qū)）TekhnoScan
- （ 浦東新區(qū)）Clark
- （ 浦東新區(qū)）MenloSystems
- （ 浦東新區(qū)）PAR
- （ 浦東新區(qū)）ZOLIX
- （ 浦東新區(qū)）雙利合譜/Dualix Spectral Imaging
- （ 以色列）以色列Acktar
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儀企號(hào)
北京先鋒泰坦科技有限公司
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量子效率測(cè)定系統(tǒng)QE-2000價(jià)格：面議- 品牌：日本大塚
- 型號(hào)/貨號(hào)：QE-2000/QE-2000
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
量子效率測(cè)量系統(tǒng)“QE-2000”是一種測(cè)量量子效率（量子產(chǎn)額）的裝置。將試料放置在固定治具上之后, 按照專(zhuān)業(yè)軟件的指示操作，可以在短時(shí)間內(nèi)完成試料的測(cè)量及解析。
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OPTM 半導(dǎo)體膜厚測(cè)試儀價(jià)格：面議- 品牌：日本大塚
- 型號(hào)/貨號(hào)：optm/optm
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
測(cè)量目標(biāo)膜的JD反射率，實(shí)現(xiàn)高精度膜厚和光學(xué)常數(shù)測(cè)試！ （分光干渉法）
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膜厚測(cè)量?jī)xFE-3價(jià)格：面議- 品牌：日本大塚
- 型號(hào)/貨號(hào)：FE-3/FE-3
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
對(duì)于具有波長(zhǎng)依賴(lài)性的多層膜，可以實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量！
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反射式膜厚測(cè)量?jī)xFE-3000價(jià)格：面議- 品牌：日本大塚
- 型號(hào)/貨號(hào)：FE-3000/FE-3000
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
可WM對(duì)應(yīng)所有基板上多層膜測(cè)量的光干涉膜厚儀。實(shí)績(jī)很多。高精度，高感度從薄膜到厚膜的廣范圍多層膜分析
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膜厚測(cè)量?jī)xFE-300價(jià)格：面議- 品牌：日本大塚
- 型號(hào)/貨號(hào)：FE-300/FE-300
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
小型?低價(jià)格！簡(jiǎn)單操作”非接觸”膜厚量測(cè)儀FE-300！
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橢圓偏振光測(cè)量?jī)xFE5000價(jià)格：面議- 品牌：日本大塚
- 型號(hào)/貨號(hào)：FE5000/FE5000
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
通過(guò)自動(dòng)多角度橢圓偏振光測(cè)量?jī)x實(shí)現(xiàn)高速的薄膜膜厚測(cè)量和高精度的光學(xué)常數(shù)解析
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激光粒徑儀價(jià)格：面議- 品牌：日本大塚
- 型號(hào)/貨號(hào)：ELSZ-2000/ELSZ-2000
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
ELSZ-2000激光粒徑儀提供快速、準(zhǔn)確、便捷的粒徑大小測(cè)試，界連電位測(cè)試以及分子量的測(cè)試。 該分析儀可在0.6納米至10微米粒度范圍內(nèi)進(jìn)行粒徑測(cè)量，-200到200mV間進(jìn)行界達(dá)電位測(cè)量。
日本大塚
日本大冢電子有限公司成立于1970年5月總部在日本，主要生產(chǎn)科學(xué)儀器，光學(xué)儀器，醫(yī)療設(shè)備，工業(yè)測(cè)量設(shè)備及零件還有配件，產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于醫(yī)療、測(cè)試、食品、化學(xué)等領(lǐng)域。
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