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北京先鋒泰坦科技有限公司
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儀企號
北京先鋒泰坦科技有限公司
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量子效率測定系統(tǒng)QE-2000價格：面議- 品牌：日本大塚
- 型號/貨號：QE-2000/QE-2000
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
量子效率測量系統(tǒng)“QE-2000”是一種測量量子效率（量子產(chǎn)額）的裝置。將試料放置在固定治具上之后, 按照專業(yè)軟件的指示操作，可以在短時間內(nèi)完成試料的測量及解析。
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OPTM 半導(dǎo)體膜厚測試儀價格：面議- 品牌：日本大塚
- 型號/貨號：optm/optm
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
測量目標(biāo)膜的JD反射率，實現(xiàn)高精度膜厚和光學(xué)常數(shù)測試！ （分光干渉法）
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膜厚測量儀FE-3價格：面議- 品牌：日本大塚
- 型號/貨號：FE-3/FE-3
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
對于具有波長依賴性的多層膜，可以實現(xiàn)高精度測量！
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反射式膜厚測量儀FE-3000價格：面議- 品牌：日本大塚
- 型號/貨號：FE-3000/FE-3000
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
可WM對應(yīng)所有基板上多層膜測量的光干涉膜厚儀。實績很多。高精度，高感度從薄膜到厚膜的廣范圍多層膜分析
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膜厚測量儀FE-300價格：面議- 品牌：日本大塚
- 型號/貨號：FE-300/FE-300
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
小型?低價格！簡單操作”非接觸”膜厚量測儀FE-300！
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橢圓偏振光測量儀FE5000價格：面議- 品牌：日本大塚
- 型號/貨號：FE5000/FE5000
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
通過自動多角度橢圓偏振光測量儀實現(xiàn)高速的薄膜膜厚測量和高精度的光學(xué)常數(shù)解析
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激光粒徑儀價格：面議- 品牌：日本大塚
- 型號/貨號：ELSZ-2000/ELSZ-2000
- 產(chǎn)地：亞洲 日本
ELSZ-2000激光粒徑儀提供快速、準(zhǔn)確、便捷的粒徑大小測試，界連電位測試以及分子量的測試。 該分析儀可在0.6納米至10微米粒度范圍內(nèi)進(jìn)行粒徑測量，-200到200mV間進(jìn)行界達(dá)電位測量。
日本大塚
日本大冢電子有限公司成立于1970年5月總部在日本，主要生產(chǎn)科學(xué)儀器，光學(xué)儀器，醫(yī)療設(shè)備，工業(yè)測量設(shè)備及零件還有配件，產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于醫(yī)療、測試、食品、化學(xué)等領(lǐng)域。
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