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    TL-2000激光開封機(jī)

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    產(chǎn)品特點(diǎn)

    TL系列激光開封機(jī)通過激光能量的調(diào)節(jié)控制,去除封裝電子器件的塑膠層。用于觀察電子器件內(nèi)部焊線偏移,焊線交叉短路,倒裝焊焊球虛焊,倒裝焊焊球短路,焊線斷裂,焊線脫離等封裝缺陷。

    詳細(xì)介紹

    TL-2000激光開封機(jī)

    TL系列激光開封機(jī)通過激光能量的調(diào)節(jié)控制,去除封裝電子器件的塑膠層。用于觀察電子器件內(nèi)部焊線偏移,焊線交叉短路,倒裝焊焊球虛焊,倒裝焊焊球短路,焊線斷裂,焊線脫離等封裝缺陷。


    TOPS? LASER DECAP 應(yīng)用


    芯片失效分析
    芯片開封被定義為有損性工藝,應(yīng)用激光的物理開封也可以是無損工藝,
    開封至部分芯片的晶圓層以及暴露出引線層結(jié)構(gòu)。


    存儲(chǔ)芯片數(shù)據(jù)恢復(fù)
    激光開封移除芯片塑封層,裸露邦定線和晶圓層,可配合使用探針板讀取損毀存儲(chǔ)芯片內(nèi)部分或全部數(shù)據(jù)。


    芯片防偽驗(yàn)證
    汽車、航空、軍 工等應(yīng)用領(lǐng)域?qū)π酒懈呖煽啃砸?,然而偽造芯片或拆機(jī)芯片滲入采購渠道影響整機(jī)安全性。
    激光開封后,可用顯微鏡觀察驗(yàn)證芯片引線框架上的原廠激光防偽碼等。


    TOPS? LASER DECAP 效果照片

    TOPS? LASER DECAP 規(guī)格參數(shù)



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