德國布魯克 納米紅外掃描近場光譜和成像系統(tǒng)nanoIR3-s

產品介紹：

2015年Anasys發(fā)布了zui新一代產品nanoIR2-s，在廣受歡迎的第二代納米紅外光譜系統(tǒng)的基礎上增加了散射近場光學成像和光譜功能（s-SNOM）。實現了同一平臺兼具AFM-IR和s-SNOM兩種技術。儀器的空間分辨率達到10nm，廣泛用于各種聚合物、有機無機復合材料、生物樣本、半導體、等離子體、納米天線等。

l   AFM-IR 消除分析化學研究人員的擔憂--與FTIR光譜完全吻合，沒有吸收峰的任何偏移

l   s-SNOM使用金屬鍍層AFM探針代替?zhèn)鹘y(tǒng)光纖探針來增強和散射樣品納米區(qū)域內的光輻射，空間分辨率由AFM針尖的曲率半徑決定

l   ZG技術實現智能的光路優(yōu)化調整，無需擔心光路偏差拖延你的實驗進度

l   最準確的定性微區(qū)化學表征，得到美國國家標準局NIST, 橡樹嶺國家實驗室等美國權威機構的認可

l   簡單易用的操作，被三十多位企業(yè)用戶和近百位學術界所選擇

l   基于DI傳承的多功能AFM實現納米熱學，力學，電學和磁學測量：

l   納米熱分析模塊（nanoTA, SThM）

l   洛侖茲接觸共振模塊（LCR）

l   導電原子力顯微鏡鏡（CAFM）

l   開爾文電勢顯微鏡（KPFM）

l   磁力顯微鏡（MFM）

l   靜電力顯微鏡（EFM）

10納米空間分辨率化學成像和光譜

石墨烯等離子體 高分辨率成像

石墨烯表面等離子體的近場相位和振幅成像；優(yōu)于10nm的光學成像

PTFE的nano FTIR光譜顯示相干分子振動時域圖（上圖）,和相應的近場光譜（下左圖）。pNTP分子層的近場光譜（圖下右）。