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德國布魯克 快速掃描納米紅外光譜Anasys nanoIR2-FS
- 品牌:德國布魯克
- 型號: nanoIR2-FS
- 產(chǎn)地:歐洲 德國
- 供應(yīng)商報價:面議
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布魯克納米表面儀器部
更新時間:2023-08-07 11:56:12
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銷售范圍售全國
入駐年限第5年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品紅外光譜(R、傅立葉)(3件)
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產(chǎn)品介紹:
納米紅外光譜系統(tǒng)(nanoIR系列)是美國Anasys儀器公司于2010年研發(fā)的基于原子力顯微鏡(AFM)的材料表征工具。其采用獨有ZG的光熱誘導(dǎo)共振技術(shù)(PTIR,也稱AFM-IR),使紅外光譜的空間分辨率突破了光學(xué)衍射極限,提高至10納米級別。在得到微區(qū)形貌,表面物理性能的基礎(chǔ)上,進一步幫助研究人員全面解析樣品表面納米尺度的化學(xué)信息。
Anasys開創(chuàng)了納米紅外化學(xué)解析的新領(lǐng)域,由于超高空間分辨率的紅外光譜采集和化學(xué)成分成像,被公認為近十來年光譜領(lǐng)域zui大的技術(shù)進步。該技術(shù)曾榮獲2010年度美國R&D100大獎。2016年Anasys發(fā)布了zui新一代產(chǎn)品nanoIR2-FS,在廣受歡迎的第二代納米紅外光譜系統(tǒng)的基礎(chǔ)上實現(xiàn)快速掃描功能,光譜采集速度<3s/光譜;ZG的輕敲模式納米紅外將空間分辨率提高至10nm以上,并大大提高紅外成像速度,并使得較軟的生物材料等軟物質(zhì)的化學(xué)成像實現(xiàn)質(zhì)的飛躍。
快速掃描納米紅外光譜FS
—納米尺度紅外光譜解決方案
NanoIR系列包含有一個原子力顯微鏡用于探測形貌及成像,除此之外,采用一個可調(diào)脈沖激光源照射樣品,利用AFM針尖在納米尺度下探測輻射吸收,獲得納米尺度紅外光譜,特定波長下的掃描成像圖為用戶提供超高分辨率的組分分布。
NanoIR應(yīng)用廣泛,如聚合物共混物、薄至單層的薄膜、界面和表面、電紡纖維、細胞、細菌、淀粉質(zhì)物質(zhì)、半導(dǎo)體表面有機污染物等。
主要特點:
消除分析化學(xué)研究人員的擔(dān)憂--與FTIR光譜完全吻合,沒有吸收峰的任何偏移
基于ZG保護的脈沖共振增強技術(shù):實現(xiàn)單分子層超薄樣品化學(xué)分析
ZG技術(shù)實現(xiàn)智能的光路優(yōu)化調(diào)整,無需擔(dān)心光路偏差拖延你的實驗進度
最準確的定性微區(qū)化學(xué)表征,得到美國國家標準局NIST, 橡樹嶺國家實驗室等美國權(quán)威機構(gòu)的認可
簡單易用的操作,被三十多位企業(yè)用戶和近百位學(xué)術(shù)界所選擇
基于DI傳承的多功能AFM實現(xiàn)納米熱學(xué),力學(xué),電學(xué)和磁學(xué)測量:
納米熱分析模塊(nanoTA, SThM)
洛侖茲接觸共振模塊(LCR)
導(dǎo)電原子力顯微鏡鏡(CAFM)
開爾文電勢顯微鏡(KPFM)
磁力顯微鏡(MFM)
靜電力顯微鏡(EFM)
AFM-IR技術(shù):
圖1 工作原理
nanoIR2-FS使用連續(xù)可調(diào)脈沖紅外光源從側(cè)面照射樣品。樣品吸收特定波長的輻射波,產(chǎn)生熱量引發(fā)樣品快速熱膨脹,從而使AFM微懸臂產(chǎn)生共振震蕩。震蕩波以鈴流的形式衰減。用傅里葉變換對鈴流信號進行分析,獲得振動的振幅和頻率。通過建立微懸臂的振幅與光源波長的關(guān)系可得到局部吸收光譜(見圖1)。AFM-IR光譜與傳統(tǒng)FTIR光譜高度吻合,可使用傳統(tǒng)的FTIR數(shù)據(jù)庫進行分析(見圖2)。
圖2 聚苯乙烯的nanoIR譜圖與FTIR譜圖的對比
典型應(yīng)用案例:
金基底上自組裝的PEG單分子層的納米化學(xué)研究
圖3左上圖為AFM形貌圖,右上圖為在1340cm-1下的紅外吸收化學(xué)成像,可觀察到幾十納米分辨率的化學(xué)組分分布。 下圖為AFM-IR光譜。
圖3 金基底上自組裝的PEG單分子層的納米化學(xué)研究
高分子共混物的化學(xué)組分研究
利用納米紅外AFM-IR對高抗沖聚丙烯共聚物(HIPP)三種不同微區(qū)組分進行成分鑒定和定量分析,1378cm-1處紅外成像 (圖4 c)顯示橡膠粒子的硬核區(qū)域具有更強的紅外吸收,表明其主要成分是聚丙烯,這是di一次獲得聚丙烯是一些HIPP體系中橡膠粒子硬核的主要成分的直接證據(jù)。利用AFM-IR光譜和FTIR光譜的高度一致性,使用常規(guī)FTIR用標準的乙丙共聚、共混標樣制作工作曲線,利用AFM-IR光譜對三種不同微區(qū)的組分進行定量分析。
Analysis of Nanodomain Composition in High-Impact Polypropylene by Atomic Force Microscopy-Infrared. Anal. Chem. 2016, 88, 4926?4930
圖4高抗沖聚丙烯共聚物(HIPP)三種不同微區(qū)組分的研究
a HIPP結(jié)構(gòu)示意圖,b AFM形貌圖, c 1378cm-1處紅外成像, d 三個不同微區(qū)的AFM-IR光譜, e 利用FTIR制作定量分析的工作曲線, f 利用AFM-IR光譜和e工作曲線計算得到三個微區(qū)PE的含量
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