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    德國布魯克 光學輪廓儀NPFLEX 3D

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    產(chǎn)品介紹:

    51.jpg

    NPFLEX 三維表面測量系統(tǒng)

    針對大樣品設(shè)計的非接觸測試分析系統(tǒng)
    活測量大尺寸、特殊角度的樣品
    gao效的三維表面信息測量
    直方向亞納米分辨率提供更多的細節(jié)
    快速獲取測量數(shù)據(jù),測試過程迅速gao效

    NPFLEX 為大尺寸工件精密加工提供準確測量
    布魯克的NPFLEXTM 3D表面測量系統(tǒng)為精密制造業(yè)帶來前所未有的檢測能力,實現(xiàn)更快的測量時間,提高了產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)力?;诎坠飧缮娴脑?,這套非接觸系統(tǒng)提供的技術(shù)性能超出了傳統(tǒng)的的接觸式坐標測量儀(CMM)和工業(yè)級探針式輪廓儀的測量技術(shù)。測量優(yōu)勢包括獲得高分辨的三維圖像,進行快速豐富的數(shù)據(jù)采集,幫助用戶更深入地了解部件的性能和功能。積累幾十年的干涉技術(shù)和大樣本的儀器設(shè)計的經(jīng)驗,NPFLEXTM是di一個可以靈活地測量大尺寸樣品的光學測量系統(tǒng),而且能夠gao效快捷地獲得從微觀到宏觀等不同方面的樣品信息。

    其靈活性表現(xiàn)在可用于測量表征更大的面型和更難測的角度樣品
    • 創(chuàng)新性的空間設(shè)計使得可測零件(樣品)更大、形狀更多

    • 開放式龍門、客戶定制的夾具和可選的搖擺測量頭可輕松測量想測部位


    gao效的三維表面信息測量
     

    • 每次測量均可獲得完整表面信息,并可用于多種分析目的

    • 更容易獲得更多的測量數(shù)據(jù)來幫助分析


    垂直方向亞納米分辨率提供更多的細節(jié)
     

    • 干涉技術(shù)實現(xiàn)每一個測量象素點上的亞納米級別垂直分辨率

    • 工業(yè)界使用多年業(yè)已驗證的干涉技術(shù)提供具有統(tǒng)計意義的數(shù)據(jù),為日漸苛刻的加工工藝提供保障

    測量數(shù)據(jù)的快速獲取保證了測試的迅速和gao效
     

    • 最少的樣品準備時間和測量準備時間

    • 比接觸法測量(一條線)更大的視場(一個面)獲得表面更多的數(shù)據(jù)

     

    為客戶量身訂做最合適的儀器配置NPFLEX在基本配置的基礎(chǔ)上,還有很多備選的配件和配置方案,滿足不同客戶的測量需求:?   可選的搖擺測量頭可輕松測量想測的樣品部位,測量樣品的側(cè)壁、傾斜表面以及斜面邊緣,重復性好。?  獲得研發(fā)大獎的透過透明介質(zhì)測量模塊(Through Transmissive Media,TTM)模塊,,結(jié)合環(huán)境測試腔,可以穿透5cm厚的色散材料,可對樣品進行加熱或者冷卻,進行原位測量。?  可選的折疊鏡頭能夠測量碗狀樣品的側(cè)壁和底部孔洞。納米級分辨率的三維表面信息測量大家對很多樣品的表面性質(zhì)感興趣,但是要獲得這些品性質(zhì),需要檢測大量的樣品表面定量信息。許多應用在航空航 天,汽車,yi療植入產(chǎn)業(yè)的大尺寸樣品,往往只能借助于二維接觸式檢測工具進行表征,獲得的只是一條線測量數(shù)據(jù)。二維掃描能夠提供樣品的表面輪廓,但是無法深入研究樣品表面更精確的紋理細節(jié)信息。NPFLEX測試系統(tǒng)采用白光干涉原理,在每一個測量點可以實現(xiàn)表面形貌的三維信息收集,且具有亞納米級的垂直分辨率。所收集的數(shù)據(jù)不受探針曲率半徑的局限,gao效的三維表面信息測量可獲取除表面粗糙度以外的多種分析結(jié)果,更多的測量數(shù)據(jù)來幫助分析樣品性質(zhì)。 快速獲取數(shù)據(jù),保證測試迅速gao效NPFLEX三維測量系統(tǒng),能夠靈活gao效的獲取大量測試數(shù)據(jù)。大大縮短了樣品制備時間和測量方案設(shè)置時間。



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