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    韓國(guó)Nanobase 超高靈敏度共聚焦拉曼成像系統(tǒng)

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    詳細(xì)介紹

    高靈敏度共焦拉曼成像系統(tǒng)!
    高分辨率!出色的重復(fù)性!

    獨(dú)特的振鏡掃描技術(shù),平臺(tái)不動(dòng),更有利于偏振拉曼及原位測(cè)試
    使用全息透射光柵,光透過率高!
    可擴(kuò)展為PL/EL/偏振拉曼/光電流成像系統(tǒng)/熒光壽命成像系統(tǒng)

    低波束拉曼系統(tǒng)

    空間光接口&光纖接口適于客戶現(xiàn)有激光器接入

    200μm x 200μm 圖像快速掃描 & 2D Mapping!

    高性價(jià)比!

     XperRam S共聚焦拉曼成像系統(tǒng)

    韓國(guó)Nanobase公司專業(yè)生產(chǎn)高性價(jià)比共聚焦激光拉曼成像系統(tǒng),為科學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域提供高性價(jià)比解決方案。 韓國(guó)NANOBASE公司 XperRam S共聚焦激光拉曼光譜成像系統(tǒng)功能強(qiáng)大,選項(xiàng)完備,操作簡(jiǎn)單,便于維護(hù)。XperRam200共聚焦拉曼成像光譜儀系統(tǒng)使用戶可以提供各種可擴(kuò)展功能,并可為客戶提供量身定制的可定制化的服務(wù)。


    主要功能:
    顯微拉曼,拉曼成像
    偏振拉曼

    低波束拉曼

    原位測(cè)試

    可拓展為EL/PL/光電流成像/熒光壽命成像


    性能優(yōu)勢(shì):

    激光掃描:
    - 優(yōu)越的分辨率 & 重復(fù)性
    resolution < 0.02 um & repeatability < 0.1 μm.
    - 大面積拉曼成像范圍
    scan area exceeding 200 x 200 μm (40X, NA=0.75物鏡)
    - 接近衍射極限的光斑,覆蓋掃描區(qū)域

    -平臺(tái)不動(dòng),更有利于偏振拉曼及原位測(cè)量


    獨(dú)有的透射式體相位全息光柵技術(shù)
    -    同類產(chǎn)品中高的衍射效率,高光透過率
    -    偏振相關(guān)性小

    平均模式
    - 高速平均模式
    4秒內(nèi)能獲得200 x 200 μm區(qū)域的某一拉曼光譜
    - ccd 讀出噪聲影響,
    CCD在激光掃描同時(shí)獲取拉曼光譜,能很大程度減少傳統(tǒng)2D拉曼mapping方法中無法避免的讀出噪聲的影響
    - 快速定量分析
    能有效的快速分析載玻片中薄膜樣品或納米微粒

    模塊化設(shè)計(jì)(可選項(xiàng))
    - 光纖耦合激光器端口和空間光端口
    - 針對(duì)多種波長(zhǎng)的嵌入式濾波器
    - 起偏器
    - 低波數(shù)拉曼濾波器選項(xiàng)(低至10 cm-1)
    - NIR近紅外選項(xiàng) (700 ~ 1000 nm)


    主要技術(shù)參數(shù)

    -532n m, up to 100mW DPSS laser

    (其它的激光器 如405nm,633nm,785nm可選 )

    顯微鏡

    -大尺寸機(jī)械臺(tái),右手控制

    -反射式LED照明光源

    -5部分組成的旋轉(zhuǎn)換鏡轉(zhuǎn)盤

    -USB 2.0 Full HD 相機(jī)

    -x40 , NA=0.75

    -60% 透過率 在 360 nm~1000 nm

    光譜儀

    -input f/5

    -焦長(zhǎng)200 mm

    -1800 lpmm VPHG grating (for 532 nm excitation)

    -Micrometer for center wavelength adjustment

    -FWHM resolution ~ 0.12 nm

    -DISPersion ~0.038 nm/pixel (16 μm/pixel)

    探測(cè)器

    -Andor CCD


    應(yīng)用案例


    WS2拉曼mapping

    WS2拉曼圖譜



    可選配置
    光纖接口&空間光接口

    熒光壽命模塊

    超快單光子計(jì)數(shù)器 & 計(jì)數(shù)板卡

    -檢測(cè)通道: 2

    -時(shí)間分辨率 : 25 ps

    -死時(shí)間:  77 ns (typ)

    激發(fā)光

    -405 nm空間光路脈沖激發(fā)光(穩(wěn)態(tài)熒光)

    -波長(zhǎng): 405 nm

    -Internal rep rate: 31.25 kHz ~ 80 Mhz, CW


    光電流模塊


    電流源表

    -Keithley 2400

    -配套探針臺(tái)

     -側(cè)邊放置的探針基座

     -旋鈕式位移控制

    X/Y軸行程13mm,Z軸行程20mm,可彎曲行程10mm

    X/Y軸精度1um,Z軸精度10um

    10fA溢泄電流,1,5mTRX線纜并配接口

    金合金探針,M5BG,0.5x30mm,彎曲型





    光偏振控制
     >> Excitation polarization control
    0~180°continuous rotation of excitation laser polarization
    Operating wavelength : 532+/-20nm
    Utilize a zero order half wave plate>>Collection polarizer
    Operating wavelength: 420~700 nm-
    Extinction ratio > 200:1
    Transmission > 83%

    窄帶濾波器 (OD7)
     >>Bandpass filter
    Bandwidth (FWHM) < 0.3 nm
    Diffraction efficiency > 90%
    >>Notch filte
    Blocking > 99.9999% (OD3 + OD3)
    Transmission > 50%
    Bandwidth (FWHM) < 0.5 nm

    激光功率控制
    Variable ND filter (OD 0.04~4)
    Laser power monitor photodiode output (BNC connector)

     
    主要應(yīng)用:
    生物
    - Cell research / Disease detection / Stents and implants
    - Cosmetics and in vivo skin analysis

    法醫(yī)檢測(cè)
    -The non-destructive and in-situ identification of controlled drugs and narcotics.

    制藥學(xué), 化妝品和食品學(xué)
    -Characterization and Mapping of active pharmaceutical ingredients and excipients

    半導(dǎo)體,太陽能電池和OLED
    -Strain measurements of a Si cap layer deposited on a SiGe substrate determination of Ge content - Defects identification during the manufacturing process
    - Defects identification during the manufacturing process

    固體狀態(tài)材料
    - Analysis of Solid State Chemical Reactions and Composite
    - Raman Maps Identify and Located Phases.


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