Leica EM RES102離子減簿儀

 德國徠卡EM RES102離子減簿儀使您的樣品具備最高水平的靈活性，具有輕薄、清潔、拋光、切割的坡度和結(jié)構(gòu)。獨特的離子束研磨系統(tǒng)結(jié)合了在一個單工作臺面單元上制備TEM、SEM和LM樣品的特點。

使用徠卡 EM RES102，使您的樣品具備最高水平的靈活性，具有輕薄、清潔、拋光、切割的坡度和結(jié)構(gòu)。獨特的離子束研磨系統(tǒng)結(jié)合了在一個單工作臺面單元上制備TEM、SEM和LM樣品的特點。

各種樣品架可以進行多元化應(yīng)用。除了高能量的離子銑工藝，徠卡EM RES102也可適于采用低離子能量處理非常柔軟的樣本。

高效并節(jié)約成本

• TEM，SEM和LM應(yīng)用功能集于一體

• SEM樣品制備最大可達25mm樣品直徑

• TEM樣品制備獲得的薄區(qū)大，有效提高了TEM樣品制備效率

• 局域網(wǎng)功能方便遠程操控

安全

離子源和樣品運動馬達驅(qū)動，程序化控制，因而可獲得重復(fù)性制樣結(jié)果

保持樣品原生態(tài)

LN2樣品臺使得溫度敏感型樣品可在優(yōu)化條件下進行離子研磨

操作簡便

• 內(nèi)置應(yīng)用參數(shù)庫  

• 幫助文件幫助初學(xué)者以及對設(shè)備進行維護

TEM或SEM樣品制備 – 在于您的選擇

為了支持多樣化的應(yīng)用需求，Leica EM RES102 可以裝配各種樣品臺以適用于TEM，SEM及LM樣品制備。預(yù)抽室系統(tǒng)實現(xiàn)樣品快速交換，從而可有效提高樣品交換效率 。

SEM

斜坡切割樣品臺適用于切割樣品獲得縱截面(90°)或斜截面(35°)，便于SEM觀察樣品內(nèi)部縱向結(jié)構(gòu)，可以在環(huán)境溫度下或 LN2 制冷情況下使用。

該樣品臺適用于SEM和LM樣品的離子束清潔，拋光和襯度增強，可在環(huán)境溫度下或 LN2制冷情況下使用。SEM樣品臺可以制備最大尺寸達 25mm 的樣品。適配器用于夾持商品化生產(chǎn)的帶有3.1mm直徑插針的SEM樣品座。

薄片樣品臺用于夾持最大尺寸為5(H)×7(W)×2(D) mm樣品。該樣品臺可以很方便地被直接轉(zhuǎn)移進SEM中，而不需要取出樣品。

TEM

TEM樣品夾用于單面或雙面離子束減薄，減薄角度可低至4°。

TEM冷凍樣品夾具與LN2制冷裝置聯(lián)用，用于制備溫度敏感型樣品。

FIB清潔樣品臺用于清潔FIB樣品，減少表面無定形非晶層。