英國DEBEN MICROTEST 2000E系列原位動態(tài)拉伸試驗臺

掃描電鏡中的材料允許我們在微結(jié)構(gòu)層級進行動態(tài)的機械特性研究。當(dāng)同時裝備EBSD設(shè)備，可以通過對晶體的結(jié)構(gòu)的分析，，實時研究材料的織構(gòu)等隨拉伸載荷和/或溫度的變化而發(fā)生的變化。
　　MICROTEST 2000E系列拉伸臺設(shè)計可以對金屬樣品施加高達2000N的拉力，用戶EBSD分析，或者對一些其他材料進行常規(guī)的應(yīng)力-應(yīng)變分析和SEM成像。試樣夾具70度角度傾斜，為EBSD分析提供了的設(shè)置。
　　MICROTEST 2000E系列拉伸臺可直接安裝在一些SEM的標(biāo)準(zhǔn)樣品臺上，或者在某些情況下可能需要C1000XYX替換樣品臺。該樣品臺頁可以在電子顯微鏡之外使用。
　　MICROTEST 2000E可以在拉伸或者壓縮模式下工作。配備的功能豐富的軟件能夠進行恒速、恒載荷或低頻循環(huán)操作，以其他功能，例如按斜坡達到預(yù)設(shè)載荷。應(yīng)力應(yīng)變曲線可以在顯示器上實時圖形繪制，圖形顯示帶有特性游標(biāo)，可選多量程和縮放功能。MTVideo選項同步視頻和數(shù)據(jù)采集，從而允許隨后對變形樣品的視頻進行詳細(xì)分析。
　　對于可變溫度研究。可以在MICROTEST 2000EW（水冷版本）平臺上EBSD的幾何位置上選配加熱夾具，加熱夾具的溫度可高達500℃。

技術(shù)特點：

1、載荷：2000N測力傳感器，精度1%量程，解析能力0.1%量程
2、長度和拉伸量：夾具間距：10mm，伸長量：10mm，線性延伸計：3μm解析能力和10μm精度
3、速度范圍：0.033mm/min– 0.4 mm/min
4 、較大樣品尺寸：29×27×5（L,W,Hmm）對EBSD樣品夾具
5、產(chǎn)品規(guī)格：196 ×96×53（L,W,Hmm）重量~3.4kg（2000ES）；~3.9kg（2000EW）

應(yīng)用領(lǐng)域：

1、 金屬與合金：研究與應(yīng)力-應(yīng)變分析相關(guān)的晶粒的晶體學(xué)旋轉(zhuǎn)。
　　缺陷的演變和應(yīng)變的積累；
　　加熱樣品，研究再結(jié)晶
2、其他（非晶）材料：在SEM中動態(tài)研究微裂紋擴展及在微觀尺度上其他失效和變形機制；

注：也可選擇MICROTEST 5000系列拉伸臺用于EBSD的材料測試系統(tǒng)