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    華測(cè)溫控探針臺(tái)/冷熱臺(tái)

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    產(chǎn)品特點(diǎn)

    溫控探針臺(tái)通過杠桿式支架,使用的是彎針探針。相比傳統(tǒng)的直針探針,這種設(shè)計(jì)不僅點(diǎn)針更準(zhǔn)確,而且點(diǎn)針力度更大,和樣品的電接觸性更勝一籌。

    詳細(xì)介紹


    溫控探針臺(tái)



    溫控探針臺(tái)通過杠桿式支架,使用的是彎針探針。相比傳統(tǒng)的直針探針,這種設(shè)計(jì)不僅點(diǎn)針更準(zhǔn)確,而且點(diǎn)針力度更大,和樣品的電接觸性更勝一籌。

     


     

    溫控探針臺(tái)是一款溫度范圍-190℃-600℃的溫控探針臺(tái)。使用時(shí)還可對(duì)樣品氣氛進(jìn)行控制。這樣既可以保證,即使在極低溫度下,腔體也不產(chǎn)生結(jié)霜影響實(shí)驗(yàn),又可以防止樣品發(fā)生氧化。此款通過杠桿式支架,使用的是彎針探針。相比傳統(tǒng)的直針探針,這種設(shè)計(jì)不僅點(diǎn)針更準(zhǔn)確,而且點(diǎn)針力度更大,和樣品的電接觸性更勝一籌。

     

    一、產(chǎn)品參數(shù)

    項(xiàng)目

    類別

    參數(shù)

    溫控參數(shù)

    溫度范圍

    負(fù)190℃-600℃(負(fù)溫需配液氮制冷系統(tǒng))

    傳感器/溫控方式

    100Ω鉑RTD/PID控制(含LVDC降噪電源)

    zui大加熱/制冷速度

    +80℃/min(100℃時(shí)),-50℃/min(100℃時(shí))

    zui小加熱/制冷速度

    ±0.01℃/min

    溫度穩(wěn)定性

    ±0.05℃(>25℃),±0.1℃(<25℃)

    軟件功能

    可設(shè)溫控速率,可設(shè)溫控程序,可記錄溫控曲線

    電學(xué)參數(shù)

    探針

    默認(rèn)為錸鎢材質(zhì)的彎針探針*可選其他種類探針

    探針座

    杠桿式探針支架,點(diǎn)針力度更大,電接觸性更好

    點(diǎn)針

    手動(dòng)點(diǎn)針,每個(gè)探針座都可點(diǎn)到樣品區(qū)上任意位置

    探針接口

    默認(rèn)BNC接頭(可選三同軸)*可增設(shè)腔內(nèi)接線柱(樣品接電引線)

    臺(tái)面電位

    默認(rèn)為電接地,可選電懸空(作背電極),可選三同軸接口

    結(jié)構(gòu)參數(shù)

    加熱區(qū)/樣品區(qū)

    28mm X 30mm

    樣品腔高

    6.3MM  *樣品zui大厚度由探針決定

    放樣

    打開上蓋后置入樣品再點(diǎn)針,關(guān)上蓋后無法移動(dòng)探針

    氣氛控制

    氣密腔,可充入保護(hù)氣體 *另有真空腔型號(hào)

    外殼冷卻

    可通循環(huán)水,以維持外殼溫度在常溫附近

    臺(tái)體尺寸/重量

    180mm X 130mm X26mm /1500g

    配置列表

    基本配置

    溫控探針臺(tái)、mK200B溫控器、外殼循環(huán)水冷系統(tǒng)

    可選配件

    測(cè)試源表、真空系統(tǒng)(僅用于真空型號(hào))、三同軸BNC接口、臺(tái)面電懸空、樣品接電引線

     

    二、功能特點(diǎn)

    *可編程精密控溫。可獨(dú)立控制,也可從上位機(jī)軟件控制

    *探針需開蓋移動(dòng),樣品臺(tái)面電接地

    *探針,分別導(dǎo)通冷熱臺(tái)外殼上的4個(gè)BNC接口

    *杠桿式探針支架,點(diǎn)針力度更大,電接觸性更好

    *彎針探針,點(diǎn)針更準(zhǔn)

    *默認(rèn)氣密腔室,通問2個(gè)快速自鎖接頭,可充保護(hù)氣體

    *上蓋帶有樣品觀察窗

    *臺(tái)體內(nèi)置干燥氣體管道,用于負(fù)溫時(shí)對(duì)視窗的除霜

    *視窗可拆卸與更換,可用不同材質(zhì)窗片實(shí)現(xiàn)不同波段光觀察

    *軟件可拓展性強(qiáng),可提供LabView等語言的SDK

     

    三、可定制更多測(cè)試功能

    *介電溫譜測(cè)試

    *四探針電阻率測(cè)試

    *絕緣電阻測(cè)試

     


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