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USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀

銷售范圍售全國

入駐年限第8年

營業(yè)執(zhí)照已審核

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聯(lián)系方式：400-822-6768

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詳細(xì)介紹

USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀的特點(diǎn)：

◆消除背面反射光
采用特殊光學(xué)系，消除背面反射光。不必進(jìn)行背面的防反射處理，可正確測定表面的反射率。

◆可測定微小領(lǐng)域的反射率
用對(duì)物鏡對(duì)焦于小區(qū)域（φ60μm），可測定鏡片曲面以及鍍膜層斑點(diǎn)。

◆測定時(shí)間短
使用Flat Field Grating（平面光柵）和線傳感器的高速分光測定，可迅速實(shí)現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。

◆XY色度圖、L*a*b測定可能
以分光測定法為基準(zhǔn)，從分光反射率情況可測定物體顏色。

◆可測定的Hard Coat（高強(qiáng)度鍍膜）膜厚
用于涉光分光法，可以不接觸、不破壞地測定被測物的膜厚（單層膜）。

USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀主要用途：

1、各種透鏡（眼鏡透鏡、光讀取透鏡等）

2、反射鏡、棱鏡以及其他鍍膜部品等的分光反射率、膜厚測定（單層膜

技術(shù)規(guī)格：

USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀

USPM-RU III：規(guī)格
測定波長	380 nm～780 nm
測定方法	與參照樣本的比較測定
被檢物N.A.	0.12（使用10×物鏡時(shí)） 0.24（使用20×物鏡時(shí)） * 與物鏡的N.A.不同。
被檢物W.D.	10.1 mm（使用10×物鏡時(shí)） 3.1 mm（使用20×物鏡時(shí)）
被檢物的曲率半徑	-1R ～-∞、+1R～∞
被檢物的測定范圍	約?60 μm（使用10×物鏡時(shí)）約?30 μm（使用20×物鏡時(shí)）
測定再現(xiàn)性（2σ）	±0.1%（380 nm～410 nm測定時(shí)） ±0.01%（410 nm～700 nm測定時(shí)）
顯示分辨率	1 nm
測定時(shí)間	數(shù)秒～十幾秒（因取樣時(shí)間而異）
光源規(guī)格	鹵素?zé)簟?2 V 100 W
載物臺(tái)Z方向驅(qū)動(dòng)范圍	85mm
PC接口	USB方式
裝置重量	機(jī)身：約20 kg（PC、打印機(jī)除外）光源用電源：約3 kg 控制器盒：約8 kg
裝置尺寸	機(jī)身： 300（W）×550（D）×570（H） mm 光源用電源： 150（W）×250（D）×140（H） mm 控制器盒： 220（W）×250（D）×140（H） mm
電源規(guī)格	光源用電源： 100 V（2.8 A）/220 V AC 控制器盒： 100V（0.2A）/220V AC
使用環(huán)境	水平且無振動(dòng)的地方溫度： 23±5 °C 濕度： 60%以下、無結(jié)露