奧林巴斯 鏡片反射率測定儀USPM-RU-W

從380nm~1050nm的可視光至近紅外實現(xiàn)大范圍波長區(qū)域中的分光測定

奧林巴斯的近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細地進行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區(qū)域、曲面的反射率，因此十分適用于光學元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。

透過率測定光路圖

實的測定功能

使用一臺即可進行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測定。

測定反射率

測定以物鏡聚光的Φ17~70μm的微小點的反射率。

反射率測定光路圖
反射率測定例：鏡片	反射率測定例：鏡片周邊部位

膜厚測定的圖例

測定膜厚 活用反射率數(shù)據(jù)，測定約50nm~約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。

物體色的測定圖例

測定物體顏色 根據(jù)反射率數(shù)據(jù)顯示XY色度圖、L*a*b*色度圖及相關數(shù)值。

測定透過率　(選配)

從受臺下部透過?2mm的平行光，測定平面樣品的透過率。

測定入射角為45度的反射率（選配）

從側面向45度面反射?2mm的平行光，測定其反射率。

45度反射率測定光路圖

域的高精度&高速測定

實現(xiàn)高速測定

使用平面光柵及線傳感器進行全波長同時分光測定，從而實現(xiàn)高速測定。

光學系圖

十分適用于測定細小部件、鏡片的反射率

新設計了可以在?17~70μm的測定區(qū)域中進行非接觸測定的專用物鏡。通常的分光光度計不能進行測定的細小電子部件或鏡片等的曲面，也可以實現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。

反射率測定圖例

測定反射率時，不需要背面防反射處理

將專用物鏡與環(huán)形照明組合，不需要進行被檢測物背面的防反射處理，就可測定最薄0.2mm的反射率*。*使用40×物鏡時，在本公司的測定條件下進行測定。

消除背面反射光的原理

可選擇的膜厚測定方法

根據(jù)測定的分光反射率數(shù)據(jù)進行單層膜或多層膜的膜厚解析?？梢愿鶕?jù)用途選擇最 佳的測定方法。

峰谷法

這是一種根據(jù)測定的分光反射率值的峰值與低谷的周期性計算出膜厚的方法，對于測定單層膜是有效的。不需要復雜的設置，可以簡單地求出。

峰谷法膜厚解析經(jīng)過信息圖例

傅里葉轉換法

這是一種根據(jù)測定的分光反射率值的周期性計算膜厚的方法，對于單層膜及多層膜的測定有效。難以檢測出峰值及低谷等時，可以幾乎不受噪音的影響進行解析。

傅里葉轉換法膜厚解析經(jīng)過信息圖例

曲線調整法

這是一種通過推算測定的分光反射率值與根據(jù)某種膜構造計算的反射率的差達到最小的構造計算出膜厚的方法，對于單層膜及多層膜的測定有效。還可以進行不會出現(xiàn)峰值及低谷的薄膜解析。

曲線調整法膜厚解析經(jīng)過信息圖例

多樣化應用

高速、高精度地應對多樣化測定需求。

通過測定球面、非球面的鏡片、濾鏡、反射鏡等光學元件的反射率，進行涂層評價、物體顏色測定、膜厚測定。

數(shù)碼相機鏡片
投影儀鏡片
光讀取頭鏡片
眼鏡片

適用于LED反射鏡、半導體基板等微小電子部件的反射率測定、膜厚測定。

LED包裝
半導體基板

適用于平面光學元件、彩色濾鏡、光學薄膜等的反射率測定、膜厚測定、透過率測定。

液晶彩色濾鏡
光學薄膜

適用于棱鏡、反射鏡等45度入射產(chǎn)生的反射率測定。

棱鏡
反射鏡