LiteScope 電鏡原位多功能原子力顯微鏡

 LiteScope?是為不同品牌的掃描電子顯微鏡（SEM）設(shè)計的“即插即用”的掃描探針顯微鏡。根據(jù)客戶需求，定制并提供適當(dāng)?shù)倪m配器和反饋機制，很容易通過四個螺絲將LiteScope?固定在電子顯微鏡的樣品臺上，通過線纜與控制器、電腦進行連接。 LiteScope?通過可更換探針進行多種掃描探針顯微鏡（SPM）成像模式。 綜合分析包括：表面形貌表征、機械性能、電性能、磁性能。

主要功能

    LiteScope?提供并支持各種SPM測量方法和各種探針，其設(shè)計基礎(chǔ)和有價值的技術(shù)特征是通過不同的探針夾，使用不同的探針以達到測試要求。其主要測試功能：原子力顯微鏡（AFM）、靜電力顯微鏡(EFM)、局部電壓/電流測量、力調(diào)制模式（FMM）、開爾文探針力模式（KPFM）、磁力顯微鏡（MFM）、掃描隧道顯微鏡（STM）、納米壓痕。

    技術(shù)特點

LiteScope?采用關(guān)聯(lián)探針和電子顯微鏡技術(shù)（CPEM），該技術(shù)利用兩種不同的技術(shù)對同一物體成像的方法。CPEM能夠同時對樣品表面的同一個區(qū)域進行SEM和AFM表征。

LiteScope?通常用于高真空環(huán)境，但也可根據(jù)要求適用于超高真空環(huán)境。

工作溫度：+15°C至 +25°C

標(biāo)準工作壓力：10-5Pa~105 Pa

外形尺寸： 129 mm x 90 mm x 45-55 mm

大掃描面積： 22 mm x 11 mm x 8 mm

掃描范圍： 100 um x 100 um x 100 um

分辨率： 0.2nm

  技術(shù)能力

優(yōu)勢

特的關(guān)聯(lián)探針和電子顯微鏡技術(shù)（CPEM）

綜合表面表征-形貌、粗糙度、磁性、導(dǎo)電性、電性能

在樣品表面對針尖進行精確導(dǎo)航定位

5分鐘內(nèi)輕松集成和安裝/拆卸

即插即用

與FIB、GIS、EDX等附件兼容

無需光學(xué)探測、無需激光調(diào)節(jié)的自感應(yīng)探頭

商用探針，多種測量模式

可根據(jù)客戶要求定制探針適配于合適的探針夾

測量頭可縮回LiteScope?的主體，以節(jié)省樣品周圍的空間。

傾斜操作（傾斜0°–60°），小WD=5 mm

軟件友好，無需特殊安裝

遠程訪問結(jié)果和測量設(shè)置

應(yīng)用

  生物傳感用石墨烯包裹金納米粒子雜化結(jié)構(gòu)的SEM/AFM表征

金納米粒子與石墨烯掩膜的結(jié)合是一種新的制備適用于表面增強拉曼光譜（SER）的活性基底的方法。石墨烯可以作為針孔鈍化層，防止等離子體納米結(jié)構(gòu)氧化。金粒子與石墨烯的接觸程度對SERS的靈敏度有重要影響。因此，了解石墨烯膜對單個納米顆?；虼祟惣{米顆粒簇的遮蓋方式非常重要?？墒褂肅PEM輕松確定納米顆粒在石墨烯膜下的分布以及表面形貌。雖然LiteScope?SPM（AFM）可以對納米顆粒上的石墨烯層進行表面成像，但SEM可以對石墨烯層下的納米顆粒進行成像。

    含HFO2顆粒的W-Cr固溶體退火后的降解

在1000°C下退火10小時后W-10Cr-1HF（含HFO2顆粒的固溶W-Cr）的分解?？紫缎纬捎诙趸x顆粒周圍，同時也形成富鉻部分（深色片晶或點）和富W部分（片晶之間的亮區(qū)）。利用CPEM可以快速、準確地識別掃描電鏡圖像中的形貌和材料對比度，很容易區(qū)分HF顆粒與孔隙。用CPEM技術(shù)研究了樣品表面的腐蝕速率。

    膠原支架上間充質(zhì)干細胞的研究

采用冷凍干燥法制備膠原支架（Ceitec-but，RG 2.3）。然后，用間充質(zhì)干細胞接種支架，在標(biāo)準培件下培養(yǎng)6天（馬薩里克大學(xué)組織胚胎學(xué)系）。后用四氧 化鋨和醋酸鈾酰對支架進行染色，以獲得更好

的視覺效果。由于LiteScope?及其通過掃描電鏡精確的AFM尖端導(dǎo)航，在不損壞支架孔中探針的情況下，才有可能對制備的細胞進行測量。利用CPEM，可以同時用電子束和探針掃描同一個細胞并獲得圖像，以及細胞與基質(zhì)的相互作用，這意味著細胞在支架后的擴展更大——更好的粘附力和更友好的環(huán)境。