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    KLA高精度臺(tái)階儀Alpha-Step D-600

    • 品牌:美國(guó)KLA
    • 型號(hào): D-600
    • 產(chǎn)地:美洲 美國(guó)
    • 供應(yīng)商報(bào)價(jià):面議
    • 上海納騰儀器有限公司 更新時(shí)間:2025-04-29 10:48:21

      銷售范圍售全國(guó)

      入駐年限第10年

      營(yíng)業(yè)執(zhí)照

      同類產(chǎn)品AFM-In-SEM(2件)

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    詳細(xì)介紹

    Alpha-Step高精度臺(tái)階儀/輪廓儀D-600 包括一個(gè) 200 毫米電動(dòng)載物臺(tái),具有 150 x 178 毫米 X-Y 運(yùn)動(dòng)范圍。 新的測(cè)序軟件具有手動(dòng)糾偏對(duì)齊和對(duì)樣本多達(dá) 1000 個(gè)位置的編程功能。 該系統(tǒng)具有先進(jìn)的光學(xué)元件、具有 4 倍數(shù)碼變焦的高分辨率 500萬像素相機(jī)和增強(qiáng)的視頻控制功能,可實(shí)現(xiàn)高度通用的樣品可視化。

    一、功能  

    設(shè)備特點(diǎn)  

    電動(dòng)載物臺(tái)  

    臺(tái)階高度:幾納米至1200μm  

    低觸力:0.03至15mg  

    視頻:500萬像素高分辨率彩色攝像頭  

    梯形失真校正:消除側(cè)視光學(xué)系統(tǒng)引起的失真  

    圓弧校正:消除由于探針的弧形運(yùn)動(dòng)引起的誤差  

    緊湊尺寸:小占地面積的臺(tái)式探針式輪廓儀  

    軟件:用戶友好的軟件界面  

    主要應(yīng)用  

    臺(tái)階高度:2D臺(tái)階高度和3D臺(tái)階高度  

    紋理:2D粗糙度和波紋度  

    形式:2D翹曲和形狀  

    應(yīng)力:2D薄膜應(yīng)力  

    應(yīng)用領(lǐng)域  

    大學(xué),研究實(shí)驗(yàn)室和研究所  

    半導(dǎo)體和復(fù)合半導(dǎo)體  

    SIMS:二次離子質(zhì)譜  

    LED:發(fā)光二極管  

    太陽能  

    MEMS:微電子機(jī)械系統(tǒng)  

    汽車  

    醫(yī)療設(shè)備  

    二、應(yīng)用  

    臺(tái)階高度  

    Alpha-StepD-600探針式輪廓儀能夠測(cè)量從幾個(gè)納米到1200μm的2D和3D臺(tái)階高度。這使其可以量化在蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP和其他工藝期間沉積或去除的材料。Alpha-Step系列具有低觸力功能,可以測(cè)量如光刻膠的軟性材料。

     

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    3D 掃描和 2D 應(yīng)力(可選配功能)

    Alpha-Step高精度臺(tái)階儀/輪廓儀3D 掃描產(chǎn)生照片般逼真的表面,可對(duì)臺(tái)階高度、紋理和樣品形狀進(jìn)行詳細(xì)的表面形貌分析。 2D 應(yīng)力利用 Stoney 方程和樣品弓在處理前后的變化來計(jì)算薄膜應(yīng)力。

    復(fù)雜表面的3D掃描

    紋理:粗糙度和波紋度

    Alpha-Step D-600測(cè)量2D和3D紋理,量化樣品的粗糙度和波紋度。 軟件過濾功能將測(cè)量值分離為粗糙度和波紋度的部分,并計(jì)算諸如均方根(RMS)粗糙度之類的參數(shù)。

    外形:翹曲和形狀

    Alpha-Step D-600可以測(cè)量表面的2D形狀或翹曲。這包括對(duì)晶圓翹曲的測(cè)量,例如在半導(dǎo)體或化合物半導(dǎo)體器件生產(chǎn)過程中,多層沉積層結(jié)構(gòu)中層間不匹配是導(dǎo)致這類翹曲產(chǎn)生的原因。 Alpha-Step還可以量化包括透鏡在內(nèi)的結(jié)構(gòu)高度和曲率半徑。

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    應(yīng)力:2D薄膜應(yīng)力

    Alpha-Step D-600能夠測(cè)量在生產(chǎn)包含多個(gè)工藝層的半導(dǎo)體或化合物半導(dǎo)體器件期間所產(chǎn)生的應(yīng)力。使用應(yīng)力卡盤將樣品支撐在中性位置精確測(cè)量樣品翹曲。 然后通過應(yīng)用Stoney方程,利用諸如薄膜沉積工藝的形狀變化來計(jì)算應(yīng)力。

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