納米壓痕儀 Hysitron TI 990 TriboIndenter

Hysitron TI 990 TriboIndenter 在控制和測(cè)試帶寬、測(cè)試靈活性、適用性、測(cè)量可靠性和系統(tǒng)模塊化方面取得了顯著進(jìn)步，從而實(shí)現(xiàn)了比以前更多、更好的研究。

布魯克下一代 Hysitron TI 990 TriboIndenter? 為納米力學(xué)和納米摩擦學(xué)表征的性能、靈活性和可用性樹立了榜樣。TI 990 是布魯克領(lǐng)先的 TriboIndenter 平臺(tái)的全面改進(jìn)，其測(cè)量和分析過程的各個(gè)方面都采用了旨在消除納米壓痕儀系統(tǒng)常見限制的更新技術(shù)。因此，該系統(tǒng)具有更多的可用測(cè)量模式 ，并在廣泛的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中提供高精度測(cè)量。

產(chǎn)品特點(diǎn)

1. 用于原位 SPM 成像的雙壓電掃描頭

2. 高分辨率、彩色光學(xué)顯微鏡

3. 低噪聲 2D 電容式傳感器

4. 計(jì)量級(jí)花崗巖框架確保測(cè)試穩(wěn)定性

5. 集成主動(dòng)減振系統(tǒng)

6. Performech III 控制器

7. 減振底座的抗噪能力提高了 50 倍

8. 多層環(huán)境隔離罩

9. 俯視樣品臺(tái)成像

10. 使用 XPM II 超高速納米壓痕進(jìn)行性能成像

11. 動(dòng)態(tài)納米壓痕

12. 帶有可定制面板的模塊化外殼

13. 通用樣品夾具

14. 高精度電動(dòng)/自動(dòng)化平臺(tái)，可測(cè)試面積增加 60%

TI 990 具有增強(qiáng)的測(cè)量功能、更高的樣品靈活性、更簡單的系統(tǒng)設(shè)置和更簡化的操作，是適用于各種應(yīng)用的優(yōu)秀表征解決方案。

無論您需要提高聚合物薄膜的精度、提高組合材料科學(xué)的測(cè)試帶寬，還是需要對(duì)全 300 毫米半導(dǎo)體晶圓進(jìn)行多參數(shù)測(cè)量分析，TI 990 都能滿足您的各種測(cè)試需求。