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A-TAKT? :FPD產(chǎn)線用光譜式亮度計(jì)
- 品牌:美國(guó)Photo Research
- 型號(hào): A-TAKT™
- 產(chǎn)地:美洲 美國(guó)
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià):面議
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北京先鋒泰坦科技有限公司
更新時(shí)間:2025-04-29 11:22:18
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銷售范圍售全國(guó)
入駐年限第10年
營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品分光輻射亮度色度計(jì)(9件)
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詳細(xì)介紹
眾所周知,光譜式測(cè)量為CCFL、LED 背光LCD 及OLED 等平板顯示技術(shù)提供了zui高精度的亮度、色度測(cè)量?,F(xiàn)有的光譜式測(cè)量的主要不足是需要很長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間。Photo Research 的A-TAKT? 系列光譜式輻射度計(jì)彌補(bǔ)了這一不足,實(shí)現(xiàn)了光譜式精度的實(shí)時(shí)產(chǎn)線測(cè)試。
A-TAKT? 系列包含三款——V-7HS、V-7WD 和V-6AQL。V-7HS是三者中靈敏zui高、測(cè)試速度zui快的機(jī)型,能夠在僅250ms的測(cè)試時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)0.5cd/m2 的微弱亮度測(cè)試(如測(cè)試LED 背光LCD);V-7WD 則提供了高速測(cè)量的解決方案,針對(duì)LCD 背光模組等具備更高光強(qiáng)的測(cè)試;而V-6AQL 則提供了更低成本的解決方案,針對(duì)關(guān)鍵環(huán)節(jié)的測(cè)量,如AQL、IQC 及OQC 等。所有三款機(jī)型都是基于CCD 進(jìn)行探測(cè)而不需通過(guò)目鏡觀測(cè),同時(shí)可調(diào)取、使用測(cè)試對(duì)象的圖像。RS232 和USB 接口以及加固的附件可增加儀器在惡劣環(huán)境中的使用安全。自帶的1/4-20 SAE 螺紋孔使得儀器非常便于安裝和固定。物鏡可從定焦50mm 到變焦75mm 的鏡頭中進(jìn)行選擇;也可根據(jù)用戶實(shí)際產(chǎn)線測(cè)試需求進(jìn)行定制鏡頭。您也可以選擇帶有屏敝罩的特殊的亮度配件用于屏蔽測(cè)試時(shí)的外界環(huán)境雜散光的影響。A-TAKT? 系列測(cè)試設(shè)備支持通過(guò)文本編程通訊協(xié)議或SDK 進(jìn)行控制,并與Windows Vista 32 或64 bit(或更高版本)及OSX(10.7+)兼容。靈活的定制由于產(chǎn)線測(cè)試環(huán)境的不同(如工作距離、測(cè)試區(qū)域和系統(tǒng)控制接口等),A-TAKT? 可提供不同配置,包括鏡頭的定制(滿足不同工作距離、光斑尺寸的測(cè)試需求),易于開發(fā)的SDK 包以便更快捷、輕松的集成到用戶的ATE 系統(tǒng)。
為確保A-TAKT? 始終保持測(cè)試的精 準(zhǔn)度和重復(fù)測(cè)試精度,我們集成了“EasyProfile”技術(shù)——針對(duì)A-TAKT? 不同測(cè)試對(duì)象的自分析技術(shù),所得分析數(shù)據(jù)使設(shè)備在確??茖W(xué)級(jí)的準(zhǔn)確性和精確度前提下實(shí)現(xiàn)zui快的測(cè)試速度。A-TAKT? 控制軟件? A-TAKT? SDK 軟件包使得A-TAKT? 系列測(cè)試設(shè)備非常方便的實(shí)現(xiàn)與您的不同產(chǎn)線測(cè)試環(huán)境集成、控制;? 與Windows Vista, Windows 7, Windows 8-32/64 或MAC OS X10.7+ 兼容;? "EasyProfile" zui優(yōu)化功能確保得到zui快、zui精 準(zhǔn)的測(cè)試結(jié)果;? 選取、調(diào)用測(cè)試目標(biāo)圖像;? 儀器控制——設(shè)置,測(cè)試和數(shù)據(jù)收集;? 可定制的軟件選項(xiàng)確保A-TAKT? 系列測(cè)試設(shè)備與您的產(chǎn)線測(cè)試需求實(shí)現(xiàn)zui優(yōu)化的整合。
高精度,快速測(cè)量,針對(duì)于低亮測(cè)試應(yīng)用-V-7HS
A-TAKT? V-7HS? 在不影響測(cè)試精 準(zhǔn)度和重復(fù)測(cè)試精度的前提下,zui短時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)zui大數(shù)量的產(chǎn)品測(cè)試;? 幾秒鐘內(nèi)實(shí)現(xiàn)完整的灰度等級(jí)、Gamma 和色度測(cè)試(取決于亮度等級(jí)和測(cè)試數(shù)量);? 近乎實(shí)時(shí)的高精 準(zhǔn) 、高重復(fù)性光譜輻射度計(jì);? 熱電制冷保持產(chǎn)線測(cè)試環(huán)境中的測(cè)試穩(wěn)定性;? 毫秒時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)極低亮度的測(cè)試;? 可針對(duì)您的不同測(cè)試需求進(jìn)行定制。
快速,高光譜分辨率,適用于高亮發(fā)光源的測(cè)試-V-7WD
A-TAKT? V-7WD? 針對(duì)FPD 背光模組等高亮發(fā)光源的極高精 準(zhǔn)度和重復(fù)精度的zui優(yōu)化測(cè)試;? 近乎實(shí)時(shí)的高精 準(zhǔn)、高重復(fù)性光譜輻射度計(jì);? 熱電制冷保持不同產(chǎn)線測(cè)試環(huán)境中的測(cè)試穩(wěn)定性;? 快速、高光譜分辨率,針對(duì)高亮背光模組、LED 模組等;? 可針對(duì)您的不同測(cè)試需求進(jìn)行定制。經(jīng)濟(jì)、便攜的解決方案,適用于QC/QA 測(cè)試-V-6AQL
A-TAKT? V-6AQL? 為您的AQL 應(yīng)用提供非常精 準(zhǔn)的光譜式解決方案;? 簡(jiǎn)潔的工業(yè)檢測(cè)量身定制;? 光譜式設(shè)計(jì)保證精 準(zhǔn)度和重復(fù)精度,滿足或優(yōu)于您的生產(chǎn)需求;? 可針對(duì)您的不同測(cè)試需求進(jìn)行定制。