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A-TAKT? ：FPD產(chǎn)線用光譜式亮度計(jì)

品牌：美國Photo Research
型號(hào)/貨號(hào)： A-TAKT™/A-TAKT™
產(chǎn)地：美洲美國
供應(yīng)商報(bào)價(jià)：面議

北京先鋒泰坦科技有限公司更新時(shí)間：2025-04-30 08:47:31

銷售范圍售全國

入駐年限第10年

營業(yè)執(zhí)照已審核

同類產(chǎn)品分光輻射亮度色度計(jì)(12件)

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產(chǎn)品特點(diǎn)

光譜式測量為CCFL、LED背光LCD及OLED等平板顯示技術(shù)提供了高精度的亮度、色度測量。現(xiàn)有的光譜式測量的主要不足是需要很長的測試時(shí)間。Photo Research的A-TAKT?系列光譜式輻射度計(jì)彌補(bǔ)了這一不足，實(shí)現(xiàn)了光譜式精度的實(shí)時(shí)產(chǎn)線測試。

詳細(xì)介紹

眾所周知，光譜式測量為CCFL、LED 背光LCD 及OLED 等平板顯示技術(shù)提供了ZG精度的亮度、色度測量?，F(xiàn)有的光譜式測量的主要不足是需要很長的測試時(shí)間。Photo Research 的A-TAKT? 系列光譜式輻射度計(jì)彌補(bǔ)了這一不足，實(shí)現(xiàn)了光譜式精度的實(shí)時(shí)產(chǎn)線測試。

A-TAKT? 系列包含三款——V-7HS、V-7WD 和V-6AQL。V-7HS是三者中靈敏度ZG、測試速度最快的機(jī)型，能夠在僅250ms的測試時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)0.5cd/m2 的微弱亮度測試（如測試LED 背光LCD）；V-7WD 則提供了高速測量的解決方案，針對(duì)LCD 背光模組等具備更高光強(qiáng)的測試；而V-6AQL 則提供了更低成本的解決方案，針對(duì)關(guān)鍵環(huán)節(jié)的測量，如AQL、IQC 及OQC 等。

所有三款機(jī)型都是基于CCD 進(jìn)行探測而不需通過目鏡觀測，同時(shí)可調(diào)取、使用測試對(duì)象的圖像。RS232 和USB 接口以及加固的附件可增加儀器在惡劣環(huán)境中的使用安全。自帶的1/4-20 SAE 螺紋孔使得儀器非常便于安裝和固定。

物鏡可從定焦50mm 到變焦75mm 的鏡頭中進(jìn)行選擇；也可根據(jù)用戶實(shí)際產(chǎn)線測試需求進(jìn)行定制鏡頭。您也可以選擇帶有屏敝罩的特殊的亮度配件用于屏蔽測試時(shí)的外界環(huán)境雜散光的影響。

A-TAKT? 系列測試設(shè)備支持通過文本編程通訊協(xié)議或SDK 進(jìn)行控制，并與Windows Vista 32 或64 bit（或更高版本）及OSX（10.7+）兼容。

靈活的定制

由于產(chǎn)線測試環(huán)境的不同（如工作距離、測試區(qū)域和系統(tǒng)控制接口等），A-TAKT? 可提供不同配置，包括鏡頭的定制（滿足不同工作距離、光斑尺寸的測試需求），易于開發(fā)的SDK 包以便更快捷、輕松的集成到用戶的ATE 系統(tǒng)。
為確保A-TAKT? 始終保持測試的JZ度和重復(fù)測試精度，我們集成了“EasyProfile”技術(shù)——針對(duì)A-TAKT? 不同測試對(duì)象的自分析技術(shù)，所得分析數(shù)據(jù)使設(shè)備在確?？茖W(xué)級(jí)的準(zhǔn)確性和精確度前提下實(shí)現(xiàn)最快的測試速度。

A-TAKT? 控制軟件

? A-TAKT? SDK 軟件包使得A-TAKT? 系列測試設(shè)備非常方便的實(shí)現(xiàn)與您的不同產(chǎn)線測試環(huán)境集成、控制；

? 與Windows Vista, Windows 7, Windows 8-32/64 或MAC OS X10.7+ 兼容；

? "EasyProfile" ZY化功能確保得到最快、最JZ的測試結(jié)果；

? 選取、調(diào)用測試目標(biāo)圖像；

? 儀器控制——設(shè)置，測試和數(shù)據(jù)收集；

? 可定制的軟件選項(xiàng)確保A-TAKT? 系列測試設(shè)備與您的產(chǎn)線測試需求實(shí)現(xiàn)ZY化的整合。