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賽默飛 Talos F200X G2 透射電子顯微鏡 S/TEM

品牌：賽默飛
型號： Talos F200X S/TEM
產(chǎn)地：美洲美國
供應(yīng)商報價：￥9999000

上海愛儀通網(wǎng)絡(luò)科技有限公司更新時間：2025-06-16 13:21:38

銷售范圍售全國

入駐年限第4年

營業(yè)執(zhí)照已審核

同類產(chǎn)品TEM 透射電子顯微鏡(11件)

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為您推薦

產(chǎn)品特點

可搭配眾多高分辨率場發(fā)射槍 (FEG)
選擇高亮度 X-FEG 或超高亮度冷場發(fā)射槍 (X-CFEG)。X-CFEG 將極佳 (S)/TEM 成像及極佳能量分辨率相結(jié)合。

直觀的軟件
Thermo Scientific Velox 軟件可實現(xiàn)對多模式數(shù)據(jù)的快速、輕松的采集和分析。

更短的化學(xué)成分獲得周期
快速、精確的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示納米級細節(jié)，同時保持高潔凈度。

更好的圖像數(shù)據(jù)
高通量 STEM 成像采用同步多信號檢測，可為高質(zhì)量圖像提供更高的對比度。

更多空間
為動態(tài)實驗添加特定用途的原位樣品桿。

高質(zhì)量 (S)TEM 圖像和準(zhǔn)確的 EDS
通過創(chuàng)新且直觀的 Velox 軟件用戶界面采集高質(zhì)量的 TEM 或 STEM 圖像。Velox 軟件中獨特的 EDS 吸收校正功能可實現(xiàn)極準(zhǔn)確的定量。

高度可重復(fù)的數(shù)據(jù)采集
所有日常 TEM 調(diào)整、例如聚焦、共心高度、電子束移位、冷凝器光闌、電子束傾斜樞軸點和旋轉(zhuǎn)中心都是自動進行的，確保您始終從Z佳成像條件開始工作。實驗可以能夠再現(xiàn)的方式重復(fù)進行，從而使您能夠?qū)Ｗ⒂谘芯慷莾x器操作。

提高了生產(chǎn)率
超穩(wěn)定的色譜柱、借助 SmartCam 的遠程操作和恒定功率物鏡，可進行快速模式和高電壓 (HT) 切換。多用戶環(huán)境的快速輕松切換。

詳細介紹

Talos F200X G2 透射電子顯微鏡

Thermo Scientific Talos F200X STEM 是一款掃描透射電子顯微鏡，其將出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像與業(yè)界領(lǐng)先的能量色散 X 射線光譜 (EDS) 信號檢測相結(jié)合。采用構(gòu)合映射的 2D/3D 化學(xué)表征由具有獨特清潔度的 4 個柱內(nèi) SDD Super-X 探頭執(zhí)行。Talos F200X 掃描透射電子顯微鏡在所有維度下均可實現(xiàn)極快速精準(zhǔn)的 EDS 分析，以及在進行動態(tài)顯微鏡檢查時實現(xiàn)導(dǎo)航快速的高分辨率 TEM 和 STEM（HRTEM 和 HRSTEM）成像。Talos F200X 掃描透射電子顯微鏡還具有較低的環(huán)境敏感度；儀器外殼可調(diào)節(jié) TEM 室中空氣壓力波、氣流和細微溫度變化的影響。

STEM 成像與化學(xué)分析

Talos F200X (S)TEM 可在多維度下對納米材料進行快速、精確的定量表征。由于具有旨在提高通量、精度和易用性的創(chuàng)新功能，Talos F200X (S)TEM 是院校、政府、半導(dǎo)體以及工業(yè)環(huán)境高級研究和分析的理想選擇。

最近對在高分辨率下進行大面積相關(guān)性成像的需求有所增加，因為這使研究人員在獲得統(tǒng)計學(xué)上穩(wěn)定的數(shù)據(jù)的同時也能保留其觀測結(jié)果的背景。Thermo Scientific Maps 軟件（由 Thermo Scientific Velox 軟件啟用）自動采集樣品的一系列圖像，并將它們拼接在一起以形成一幅大尺寸最終圖像。甚至可以在無人值守的情況下進行圖像采集。 APW（自動化顆粒工作流程）包具有本節(jié)所述的所有優(yōu)點，并利用 Thermo Scientific Avizo2D軟件在專用處理 PC 上添加了獨特的處理功能。您可以自動獲取大小、面積、周長、形狀、因子、接觸點等納米顆粒參數(shù)。全自動且無人值守軟件包可使您全天候使用 Talos F200X (S)TEM ，獲得更好的統(tǒng)計數(shù)據(jù)并顯著改善可重復(fù)性（因為不存在操作員偏差）。

Align Genie 自動化軟件減輕了新手操作員的學(xué)習(xí)負擔(dān)，減少了多用戶環(huán)境中的緊張氣氛，并為經(jīng)驗豐富的操作員縮短了數(shù)據(jù)獲得周期。

性能數(shù)據(jù)

HRTEM 線分辨率	≤0.10 nm
STEM 分辨率	≤0.16 nm (X-FEG) ≤0.14 nm ，100 pA (X-CFEG)
Super-X EDS 系統(tǒng)	4 SDD 對稱設(shè)計、無窗、遮光板保護
電子能量損失光譜 (EELS) 能量分辨率	≤0.8 eV (X-FEG) ≤0.3 eV (X-CFEG
200 kV 下的槍亮度	1.8×109 A /cm2 srad (X-FEG) 2.4×109 A /cm2 srad (X-CFEG)

賽默飛 Talos F200X G2 透射電子顯微鏡 S/TEM

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