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    日立 HF5000 球差場發(fā)射透射電子顯微鏡TEM

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    詳細(xì)介紹


    200 kV相差校正TEM/STEM,平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能

    通過單極片實(shí)現(xiàn)0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX。
    透射電子顯微鏡除了延續(xù)了日立公司配備的具有掃描透射電子顯微鏡“HD-2700”的球面像差校正器的功能、自動(dòng)校正功能,像差校正后的SEM圖像和對(duì)稱Dual SDD技術(shù)等特點(diǎn)。還融匯了透射電子顯微鏡HF系列中所積累的技術(shù)。
    對(duì)于包括高端用戶在內(nèi)的廣泛用戶,我們提供亞?級(jí)空間分辨率和高分析性能以及更多樣化的觀察和分析方法。


    特點(diǎn)

    1. 標(biāo)配日立生產(chǎn)的照射系統(tǒng)球差校正器(附自動(dòng)校正功能)

    2. 搭載具有高輝度、高穩(wěn)定性的冷場FE電子槍

    3. 鏡體和電源等的高穩(wěn)定性使機(jī)體的性能大幅度提升

    4. 觀察像差校正SEM/STEM圖像的同時(shí)觀察原子分辨率SE圖像

    5. 采用側(cè)面放入樣品的新型樣品臺(tái)結(jié)構(gòu)以及樣品桿

    6. 支持高立體角EDX*的對(duì)稱配置(對(duì)稱Dual SDD*)

    7. 采用全新構(gòu)造的機(jī)體外殼蓋

    8. 配備日立生產(chǎn)的高性能樣品桿*


    高輝度冷場FE電子槍×高穩(wěn)定性×日立制球面像差校正器

    以長年積累起來的高輝度冷場FE電子源技術(shù)為基礎(chǔ),進(jìn)行優(yōu)化,進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)電子槍的高度穩(wěn)定性。
    此外,還更新了鏡體,電源系統(tǒng)和樣品臺(tái),以支持觀察亞?圖像,并提升了機(jī)械和電氣穩(wěn)定性,然后與日立公司的球差校正器結(jié)合使用。
    不僅可以穩(wěn)定地獲得更高亮度更精密的探頭,而且自動(dòng)像差校正功能可以實(shí)現(xiàn)快速校正,從而易于發(fā)揮設(shè)備的固有性能。使像差校正可以更實(shí)用。

    Si(211)單晶體HAADF-STEM圖像(左)和圖像強(qiáng)度曲線分布(右下)、FFT功率譜(右上)

    Si(211)單晶體HAADF-STEM圖像(左)和圖像強(qiáng)度曲線分布(右下)、FFT功率譜(右上)


    支持高立體角EDX*的對(duì)稱Dual SDD*

    支持雙重配置100 mm2 SDD檢測器,以實(shí)現(xiàn)更高的靈敏度和處理能力進(jìn)行EDX元素分析。
    由于第二檢測器位于DI 一檢測器的對(duì)面位置,因此,幾乎不會(huì)因?yàn)闃悠穬A斜,導(dǎo)致X射線中的信號(hào)檢測量發(fā)生變化。所以,即使是結(jié)晶性樣品,也不用顧忌信號(hào)量,可完全按照樣品的方向與位置進(jìn)行元素分析。
    此外,對(duì)于電子束敏感樣品、低X光輻射量的樣品,除了原子列映射,在低倍、廣視野的高精細(xì)映射等領(lǐng)域也極為有效。

    GaAs(110)的原子柱EDX映射

    GaAs(110)的原子柱EDX映射


    像差校正SEM圖像/STEM圖像 同時(shí)觀察

    配有標(biāo)配二次電子檢測器,可同時(shí)觀察像差校正SEM/STEM圖像。通過同時(shí)觀察樣品的表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu),可以掌握樣品的三維構(gòu)造。
    在像差校正SEM圖像中,除了可以通過校正球差來提高分辨率之外,還可以獲取更真實(shí)地樣品表面圖像。

    Au/CeO2催化劑的SEM/ADF-/BF-STEM圖像(上段)和Au粒子的高分辨率圖像(下段)


    主要規(guī)格

    項(xiàng)目內(nèi)容
    電子源W(310)冷陰極場發(fā)射型
    加速電壓200 kV、60 kV*1
    圖像分辨率STEM0.078 nm(ADF-STEM圖像)
    TEM0.102 nm(晶格像)
    倍率STEM×20~×8,000,000
    TEM×100~×1,500,000
    樣品微動(dòng)樣品臺(tái)偏心測角儀(Eucentric Goniometer)5軸樣品臺(tái)
    樣品尺寸3 mm Φ
    移動(dòng)范圍X, Y=±1.0 mm,Z=±0.4 mm
    樣品傾斜α=±25°、β=±35°(日立2軸傾斜樣品桿*1)
    像差校正器配有日立照射系統(tǒng)球面像差校正器(標(biāo)配)
    圖像顯示PCWindows? 7 *2
    顯示器27英寸寬屏液晶顯示器(機(jī)體控制顯示器、第二顯示器*1)
    攝像頭標(biāo)配伸縮式攝像頭
    屏幕攝像頭*1(用于熒光板觀察)

    機(jī)體尺寸/重量

    項(xiàng)目寬度×進(jìn)深×高度(mm)重量(kg)
    鏡體(含電子槍)1,060×1,742×2,9701,940
    機(jī)體外殼蓋1,678×1,970×3,157429
    操作臺(tái)1,400×819×740132
    擴(kuò)展操作臺(tái)*1580×819×74053
    FE槽1,041×840×1,317482
    V0槽398×630×1,046164
    控制電源1,400×693×816173
    像差校正器電源606×529×1,09681
    排氣系統(tǒng)電源913×663×1,790378
    轉(zhuǎn)向系統(tǒng)電源913×663×1,790394
    配重塊280×130×13023
    Gatan控制器*1*3576×648×1,173150
    冷卻水控制裝置470×540×35025
    冷卻水循環(huán)裝置*1*3970×970×1,06495
    干式泵*1252×400×33623
    空壓機(jī)*1275×560×57625

    安裝條件

    項(xiàng)目內(nèi)容
    室溫15~23℃(溫度變化:0.2℃/h以內(nèi))
    濕度40~60% RH
    電源機(jī)體單相AC200~240 V ±10%、50/60 Hz、10 kVA
    斷路器容量 50 A
    冷卻水循環(huán)裝置*1*3三相AC200 V ±5%、50/60 Hz、30 A
    接地D種接地(100 Ω以下)
    冷卻水水量5.1~5.3 L/min 1系統(tǒng)、2.0~2.2 L/min 1系統(tǒng)
    (水壓0.25 MPa)
    水溫16~18℃(變動(dòng):±0.1℃以內(nèi))
    氣體SF699.9%以上、180 k~200 kPa
    干氮99.9%以上、0~100 kPa
    壓縮空氣600 k~800 kPa


    布局示例

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