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    產(chǎn)品中心

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    通用迷你溫控探針臺 真空腔

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    通用迷你溫控探針臺 真空腔 核心參數(shù)
    溫度范圍 -190℃ ~ 400℃(負溫需配液氮制冷系統(tǒng)) 溫度穩(wěn)定性 ±0.05℃(>25℃),±0.1℃(<25℃)

    產(chǎn)品特點

    HCP421SV-MPS Instec的真空型mini臺式探針臺系列是可從外部移動探針進行點針的桌上型探針臺,涵蓋多型號、多溫度范圍。同時允許溫控、探針電測試、光學(xué)觀察和樣品氣體環(huán)境控制。探針臺上蓋與底殼構(gòu)成一個可抽真空的密封腔,亦可內(nèi)充入氮氣等保護氣體,來防止樣品在負溫下結(jié)霜,或高溫下氧化。

    詳細介紹

    功能特點


    mimi型溫控探針臺,可集成到各種光學(xué)設(shè)備

    可編程控溫,涵蓋-190℃~1000℃(具體由型號而定)

    適用 10 mm ~ 50 mm 晶圓和器件

    可抽真空的腔體,亦可充入保護氣體使用

    獨立的四個探針,可從設(shè)備外部移動探針進行點針

    可從溫控器或電腦軟件控制,可提供軟件SDK

    *可做定制或改動,詳詢上海恒商

    溫控參數(shù)


    溫度范圍

    -190℃~400℃(負溫需配液氮制冷)

    加熱塊材質(zhì)

    傳感器/溫控方式

     

    升溫速率

    100Ω鉑RTD / PID控制(含LVDC降噪電源)

    120℃/min(at 100℃)

    溫控速度

    ±0.01℃/min

    溫度分辨率

    0.01℃ RTD傳感器

    溫度穩(wěn)定性

    ±0.05℃(>25℃),±0.1℃(<25℃)

    軟件功能

    可設(shè)溫控速率,可設(shè)溫控程序,可記錄溫控曲線

    電學(xué)參數(shù)


    探針

    默認為錸鎢材質(zhì)的彎針探針

    探針座

    可從外部XYZ移動的探針臂

    粗調(diào)模式+微調(diào)模式,微調(diào)行程2mm

    點針

    從外部移動點針,每個探針座都可點到樣品區(qū)上任意位置

    探針接口

    默認為BNC接頭,可選三同軸接口

    樣品臺面電位

    默認為電接地,可選電懸空(作背電極),可選三同軸接口

    光學(xué)參數(shù)


    適用光路

    反射光路

    窗片

    可拆卸與更替的窗片

    物鏡工作距離

    12 mm  *截面圖中WD

    上蓋窗片觀察

    窗片范圍φ50mm,視角±40°  *截面圖中θ1

    負溫下窗片除霜

    吹氣除霜管路

    結(jié)構(gòu)參數(shù)


    適用樣品

    10 mm ~ 50 mm 直徑 (標準)

    樣品腔高

    8 mm

    探針座

    可從外部XYZ移動的探針臂

    粗調(diào)模式+微調(diào)模式,XY粗調(diào)20mm

    XY微調(diào)行程10mm,Z微調(diào) 3mm

    氣氛控制

    真空腔,也可充入保護氣體

    外殼冷卻

    可通循環(huán)水,以維持外殼溫度在常溫附近

    臺體尺寸/重量

    300 mm x 300 mm x 40 mm / 4kg

    配置列表


    基本配置

    真空型臺式探針臺、mK2000B溫控器

    可選配件

    安裝支架、液氮制冷系統(tǒng)、外殼循環(huán)水冷系統(tǒng)、顯微鏡頭、

    真空系統(tǒng)、測試源表、三同軸BNC、臺面電懸空、樣品接電引線

    可選型號


    TP102SV-MPS

    溫度范圍 -40℃ ~ 180℃,樣品區(qū),40mm*40mm

    HCP421SV-MPS

    溫度范圍 -190℃ ~ 400℃,樣品區(qū) 28mm*30mm

    HCP402SV-MPS

    溫度范圍 -190℃ ~ 400℃,樣品區(qū) 50mm*50mm

    HP1000SG-MPS

    溫度范圍 35℃ ~ 1000℃,樣品區(qū) 25mm*25mm,氣密腔室

    定制型號

    按客戶需求定制,適用300mm晶圓樣品

    典型應(yīng)用


    表征薄膜、二維材料、納米材料和分子/有機材料器件的電性能測試

    需要加熱塊表面電接地、接同軸BNC接口、三同軸BNC接口的

    需要鎢錸探針、鈹銅探針或其他材料的探針的

    需要從外部對臺體內(nèi)探針進行XYZ移動的

    晶圓、半導(dǎo)體器件、集成電路、印刷電路板、光伏板、LCD/LED測試

    測量IV和CV特性、擊穿電壓、漏電流、電阻、介電常數(shù)和二極管效率


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