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日本日立 HD-2700球差校正掃描透射電子顯微鏡
- 品牌：日立
- 型號： HD-2700
- 產地：亞洲 日本
- 供應商報價：面議
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日立科學儀器（北京）有限公司
更新時間：2025-04-07 13:37:59 -
銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產品透射電子顯微鏡(4件)
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產品特點
- 專用掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國CEOS GmbH公司（總經理Max Haider先生）共同開發(fā)的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，更適合高納米技術研究。由于球差校正系統(tǒng)校正了限制電子顯微鏡的性能的球差，使其與標準型號顯微鏡相比，分辨率提高了1.5倍，同時，探針電流提高了10倍。
詳細介紹
產品介紹：
專用掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國CEOS GmbH公司（總經理Max Haider先生）共同開發(fā)的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，更適合高納米技術研究。由于球差校正系統(tǒng)校正了限制電子顯微鏡的性能的球差，使其與標準型號顯微鏡相比，分辨率提高了1.5倍，同時，探針電流提高了10倍。
近，該顯微鏡還配備了高分辨率鏡頭和冷場發(fā)射電子槍，進一步提高了圖像分辨率和電子束能量分辨率。同時，該型號系列還增加了一款不帶球差校正的主機配置，可以以后加配球差校正進行升。
特點高分辨率掃描透射電子顯微鏡成像HAADF-STEM圖像0.136nm，F(xiàn)FT圖像0.105nm（高分辨率鏡頭（*））
HAADF-STEM圖像0.144nm（標準鏡頭）
明場掃描透射電子顯微鏡圖像0.204nm（w/o球差校正儀）
高速，高靈敏度能譜分析：探針電流×10倍
元素面分布更迅速及時
低濃度元素檢測
操作簡化
自動圖像對中功能
從樣品制備到觀察分析實現(xiàn)無縫連接
樣品桿與日立聚焦離子束系統(tǒng)兼容
配有各種選購件可執(zhí)行各種評估和分析操作
同時獲取和顯示SE&BF, SE&DF, BF&DF, DF/EDX面分布（*） 和DF/EELS面分布（*）圖像。
低劑量功能（*）（使樣品的損傷和污染程度降至zui低）
高精度放大校準和測量（*）
實時衍射單元（*）（同時觀察暗場-掃描透射電子顯微鏡圖像和衍射圖案）
采用三維微型柱旋轉樣品桿（360度旋轉）（*），具有自動傾斜圖像獲取功能。
ELV-3000即時元素面分布系統(tǒng)（*）（同時獲取暗場-掃描透射電子顯微鏡圖像）
（*） 選購件
技術指標
HD-2700球差校正掃描式透射電子顯微鏡
項目描述圖像分辨率 w/o球差校正儀
保證 0.204nm（當放大倍數(shù)為4,000,000時） w球差校正儀 保證 0.144 nm（當放大倍數(shù)為7,000,000時）（標準鏡頭） 保證 0.136nm（HAADF圖像）
保證0.105 nm（通過FFT）（當放大倍數(shù)為7,000,000時）（高分辨率鏡頭（*））放大倍數(shù) 100倍 至 10,000,000倍 加速電壓 200 kV, 120 kV （*） 成像信號 明場掃描透射電子顯微鏡：相襯圖像（TE圖像）
暗場掃描透射電子顯微鏡：原子序數(shù)襯度圖像（Z襯度圖像）
二次電子圖像（SE圖像）
電子衍射（*）
特征X射線分析和面分布（能譜分析）（*）
電子能量損失譜分析和面分布（EV3000）（*）電子光學系統(tǒng) 電子源 肖特基發(fā)射電子源 冷場致發(fā)射器（*） 照明透鏡系統(tǒng) 2-段聚光鏡鏡頭 球差校正儀（*） 六鏡頭設計 掃描線圈 2-段式電磁感應線圈 原子序數(shù)襯度收集角控制 投影鏡設計 電磁圖像位移 ±1 μm 試片鏡臺 樣品移動 X/Y軸 = ±1 mm, Z軸 = ±0.4 mm 樣品傾斜 單軸-傾斜樣品桿：±30°（標準鏡頭）, ±18°（高分辨率鏡頭（*）） 真空系統(tǒng) 3個離子泵，1個TMP 限真空 10-8 Pa（電子槍）, 10-5 Pa（樣品室） 圖像顯示 個人電腦／操作系統(tǒng) PC/AT兼容, Windows? XP 監(jiān)視器 19-inch液晶顯示器面板 圖像幀尺寸 640 × 480, 1,280 × 960, 2,560 × 1,920 象素 掃描速度 快掃，慢掃（0.5至320秒／幀） 自動數(shù)據(jù)顯示 記錄序號，加速電壓，下標尺，日期，時間
滬公網安備 31011502008050號