光學(xué)材料測試

弱吸收的意義在高功率激光系統(tǒng)中，光學(xué)鏡片的膜層及體材料吸收較大的話會引起以下熱透鏡效應(yīng)進而產(chǎn)生—系列問題: 1、如下圖所示的焦距發(fā)生變化 ⒉、波前畸變 3、退偏 4、膜層吸收是影響薄膜損傷閾值...

PCI弱吸收儀特點: 精度高: 1 ppm; —次測量可以區(qū)分體、面吸收; 掃描速度快(幾分鐘); 對樣品規(guī)格要求不高; 操作方便、簡單。

EKKOTM圓二色性微片測量儀用于光學(xué)活性化合物的高通量篩選。 EKKOTM圓二色性微片測量儀使用垂直光路直接從標(biāo)準孔板測量圓二色性。這樣就不需要將溶液轉(zhuǎn)移到試管中進行篩選，也不需要在分析過程中清洗...

Hinds Instruments 公司的2-MGEM橢圓儀是—種用于測量米勒矩陣樣本的正常入射偏振反射顯微鏡。它可以用來評估RTISO核燃料熱解碳層的光學(xué)各向異性(OPTAF)。該系統(tǒng)是根絕Dr.G...

偏振測量長期以來一直是Hinds儀器的專業(yè)技術(shù)，在新的交鑰匙雙PEM研究中， STOKES偏振計系統(tǒng)是為測量光的斯托克斯參量提供高靈敏度的下一步，該系統(tǒng)在光學(xué)元件表征、光學(xué)系統(tǒng)光束輸出特性、天文學(xué)、...

使用Hinds儀器公司PEM技術(shù)，該系統(tǒng)為一個完整的Mueller偏振計提供了高水平的靈敏度。關(guān)鍵詞:150XT,穆勒橢偏儀，Hinds.Hinds Instruments,穆勒矩陣測量系統(tǒng)，穆勒矩陣...

Exicor雙折射微型成像儀為學(xué)術(shù)界和工業(yè)界的研究人員提供了評估雙折射的能力。無論是生物材料還是工業(yè)材料。微型成像儀具有0.7um的數(shù)字分辨率，0.1nm的檢測限（噪聲水平）和3500nm以上的測量范...

Exicor測量通過正在研究的光學(xué)樣品沿著光路積分的延遲。它旨在測量并顯示延遲軸的大小和方向。 設(shè)計減去了光學(xué)系統(tǒng)中的移動部件，并避免了在測量角度之間切換。氦氖激光束被偏振，然后被PEM調(diào)制。調(diào)制后...

Hinds儀器的’ExicorR雙折射測量系統(tǒng)PV-Si是工作平臺的擴展。本系統(tǒng)采用高質(zhì)量的對稱光彈性調(diào)制器、1550 nm激光和Ge雪崩光電二極管探測器，實現(xiàn)了光伏和半導(dǎo)體工業(yè)中硅材料的高精度雙折射...

LCD材料的超低階雙折射測量用于LCD的Exicor GEN系列 在與眾多光學(xué)材料制造商合作多年后，Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系統(tǒng)，用于測量大面積光學(xué)材料，如用于LCD(高...

Hinds儀器的Exicor雙折射測量系統(tǒng)型號150AT是ExicorR雙折射測量系統(tǒng)系列產(chǎn)品的工作平臺。該系統(tǒng)具有多功能性，在生產(chǎn)車間和研發(fā)實驗室環(huán)境中均可勝任。該模型廣泛用于研究和工業(yè)中測量組件;...

Hinds Instruments 的ExicorOIA是透鏡、平行面光學(xué)、曲面光學(xué)在正常和斜入角度評估的主要雙折射測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds Insrtuments 光彈調(diào)制器（PEM）基于...