表面分析

在線微粒氣泡監(jiān)測(cè), 在線微粒的測(cè)量，在線發(fā)動(dòng)機(jī)故障檢測(cè)，在線汽缸壁的磨損監(jiān)測(cè)，在線潤(rùn)滑油顆粒檢測(cè)，在線軸承故障檢測(cè)，在線軸承損壞監(jiān)測(cè)，在線齒輪故障檢測(cè)

采用近紅外光譜(NIR)的測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見(jiàn)光和紫外光無(wú)法使用的應(yīng)用領(lǐng)域，比如在可見(jiàn)光范圍內(nèi)有吸收的太陽(yáng)能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的測(cè)量。

MProbe UVVisSR薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導(dǎo)體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導(dǎo)體化合物(AlGaAs, InG...

大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導(dǎo)體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導(dǎo)體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂層(...

MProbe MSP顯微薄膜測(cè)厚儀適用于實(shí)時(shí)在線測(cè)量，多層測(cè)量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(kù)(超過(guò)500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, C...

MProbe Vis薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導(dǎo)體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導(dǎo)體化合物(AlGaAs, InGaAs，...

當(dāng)一束光入射到薄膜表面時(shí)，薄膜上表面和下表面的反射光會(huì)發(fā)生干涉，干涉的發(fā)生與薄膜厚度及光學(xué)常數(shù)等有關(guān)，反射光譜薄膜測(cè)厚儀就是基于此原理來(lái)測(cè)量薄膜厚度。

· 高分辨率成像和定量的材料性能成像。 · 提供多模塊功能的MultiMode · 發(fā)表論文AFM · 峰值力模式實(shí)現(xiàn)

同類AFM中具有低的噪音水平和高的分辨率Innova掃描探針顯微鏡（SPM）具有很高的分辨率，實(shí)用性強(qiáng)，從器件表征到物理化學(xué)、生命科學(xué)、材料科學(xué)等方面都有廣泛應(yīng)用。這是一套簡(jiǎn)易的裝置，儀器成本合理，適...

Dimension FastScan 原子力顯微鏡 (AFM)在不損失Dimension? Icon?分辨率的儀器性能前提下，大限度的成像速度。這項(xiàng)技術(shù)，解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技...

隨著納米科技和薄膜技術(shù)的發(fā)展（太陽(yáng)能電池，cvd、pvd、dlc、MEMS等），納米尺度的機(jī)械性能測(cè)試趨向標(biāo)準(zhǔn)化。納米機(jī)械性能測(cè)試在傳統(tǒng)測(cè)試基礎(chǔ)上有了很大改進(jìn)，通過(guò)設(shè)計(jì)高寬徑比的探針測(cè)試更深更窄的溝槽...

布魯克UMT摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)由于其良好的兼容新和多模塊化設(shè)計(jì)得到了市場(chǎng)。良好的設(shè)備兼容性設(shè)計(jì)理念，可以使一個(gè)樣品在同一個(gè)實(shí)驗(yàn)設(shè)備上實(shí)現(xiàn)多種性能表征，大大節(jié)省了試驗(yàn)時(shí)間. 模塊化設(shè)計(jì)，輕松快速實(shí)現(xiàn)模塊...

布魯克專門(mén)設(shè)計(jì)的Hysitron TI Premier 納米力學(xué)測(cè)試儀器在緊湊平臺(tái)中提供了業(yè)界的、定量納米力學(xué)表征技術(shù)。以被廣泛驗(yàn)證的Hystrion 技術(shù)為基礎(chǔ)，TI Premier 提供了納米...

布魯克的海思創(chuàng)TI 980 TriboIndenter同時(shí)具有高的性能、靈活性、可信度、實(shí)用性和速度?；诤Ｋ紕?chuàng)幾十年的技術(shù)，他為納米力學(xué)表征帶來(lái)了更高水平的性能、功能和易用性。TI 980一臺(tái)優(yōu)異納...

為大尺寸工件加工提供非接觸準(zhǔn)確測(cè)量布魯克的NPFlex 三維表面測(cè)量系統(tǒng)為大樣品的表面表征測(cè)量提供了靈活的非接觸式的方案，可廣泛用于YL植入，航空航天、汽車(chē)或加工上的大型、異型工件的測(cè)量。基于白光干涉...

適用于科研和生產(chǎn)的高質(zhì)量表面測(cè)量手段ContourGT-I 3D 光學(xué)顯微鏡將三十多年表面測(cè)量經(jīng)驗(yàn)和技術(shù)融合到單一平臺(tái)上，實(shí)現(xiàn)調(diào)整校準(zhǔn)自動(dòng)便捷、測(cè)量角度靈活多樣、測(cè)試成像性能優(yōu)異及表面定量測(cè)試方案。