產(chǎn)品中心

基于RTS-mini顯微系統(tǒng)而搭建，集成拉曼/熒光/光電流原位測(cè)試功能，配合高精度微米電動(dòng)位移臺(tái)，實(shí)現(xiàn)Raman/PL Mapping及激光誘導(dǎo)光電流成像。深度表征材料內(nèi)部分子振動(dòng)能級(jí)與轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)結(jié)構(gòu)信

RTS2-InSitu不但可以對(duì)樣品進(jìn)行原位的PL光譜，Raman光譜進(jìn)行測(cè)量，也可以升級(jí)到時(shí) 間分辨Raman等功能，有效避開熒光干擾，還包括LIBS原子光譜。

可適用于30-200mm遠(yuǎn)距離的拉曼光譜測(cè)試以及樣品成像。

深紫外超寬禁帶半導(dǎo)體熒光測(cè)試系統(tǒng)，基于我司20年左右的第三代半導(dǎo)體表征測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，可以有效地對(duì)寬禁帶與超寬禁帶半導(dǎo)體材料例如AlN和AlGaN等進(jìn)行熒光激發(fā)

本系統(tǒng)通過193的脈沖激光器或者等離子體光源+單色儀的連續(xù)193光源，對(duì)器件的光電流響應(yīng)進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量速度約4KHZ，同時(shí)通過標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器對(duì)激光強(qiáng)度波動(dòng)進(jìn)行測(cè)量，對(duì)結(jié)果進(jìn)行校正。

PL測(cè)試是一種無損的測(cè)試方法，可以快速、便捷地表征半導(dǎo)體材料的缺陷、雜質(zhì)以及材料的發(fā)光性能。

AA-9000采用橫向加熱縱向塞曼背景校正且磁場(chǎng)強(qiáng) 度連續(xù)可變技術(shù)，繼續(xù)領(lǐng)航國(guó)產(chǎn)高端原子吸收。 該儀器在石墨爐扣背景性能上得到質(zhì)的提高，能夠 滿足地質(zhì)、冶金、機(jī)械、化工、農(nóng)業(yè)、食品、輕 工、生物醫(yī)藥、

AA-5000 系列原子吸收分光光 度計(jì)可廣泛應(yīng)用于冶金、石化、 地質(zhì)、醫(yī)學(xué)、環(huán)保、科研、農(nóng) 業(yè)（土肥）、疾控、食品、材料 科學(xué)、商檢等領(lǐng)域。目前能分析的元素多達(dá) 70 余種，在微 量和痕量的元素分析

AA-2000 系列原子吸收分光光度計(jì)可廣泛應(yīng)用于冶金、石化、 地質(zhì)、醫(yī)學(xué)、環(huán)保、科研、農(nóng) 業(yè)（土肥）、疾控、食品、材料 科學(xué)、商檢等領(lǐng)域。目前能分 析的元素多達(dá) 70 余種，在微量和痕量的元素分析中