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青島森泉光電有限公司
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- 品牌：美國海洋光學
- 型號：MicroTEQ-S1
- 產地：美洲 美國
MicroTEQ-S1顯微光譜測量系統(tǒng)，集成熒光、拉曼和反射光譜測量功能。通過把光譜模塊集成到顯微鏡上，實現(xiàn)顯微熒光、拉曼和其他光譜信息的測量。系統(tǒng)由光譜儀、激光器、光源、顯微鏡等部分構成，自由靈活，...
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- 品牌：美國海洋光學
- 型號：MicroTEQ-B1
- 產地：美洲 美國
MicroTEQ-B1顯微光譜測量系統(tǒng)，具備透反射測量功能。系統(tǒng)選用了共焦收光方式，形成了較小的收光面；除此之外，視野+成像+收光+物面的共軛，可使觀察和測試同時進行。系統(tǒng)中的顯微反射測量模塊可適配市...
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- 品牌：美國海洋光學
- 型號：MicroTEQ-A1
- 產地：美洲 美國
MicroTEQ-A1顯微光譜測量系統(tǒng)，集成熒光、共焦拉曼測量功能*。通過把光譜測量模塊集成到正置或倒置顯微鏡上，實現(xiàn)顯微熒光、共焦拉曼和其他光譜信息的測量。系統(tǒng)由光譜儀、激光器、顯微鏡、光譜測試模塊...
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- 品牌：美國海洋光學
- 型號：MicroTeq-R1
- 產地：美洲 美國
MicroTEQ-R1 顯微光譜測量系統(tǒng)，采用高精度微區(qū)光路平臺，通過加裝于正置顯微鏡光路中的拉曼光譜模塊，實現(xiàn)了共焦拉曼*測量功能。
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- 品牌：美國海洋光學
- 型號：RM-LQ-SHS
- 產地：美洲 美國
精巧設計，無需調節(jié)，支持標準1cm光程比色皿及不同尺寸的樣品小瓶，適合Accuman系列和模塊化拉曼探頭，能隔絕環(huán)境光影響，提高測量精確性。
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- 品牌：美國海洋光學
- 型號：RM-SERS
- 產地：美洲 美國
洋光學SERS基片專用支架，適合Accuman系列和模塊化拉曼探頭，能為測量提供精準的定位，隔絕環(huán)境光影響，提高測量精確性。
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