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2025-04-14 12:10:59手動(dòng)探針臺(tái): 手動(dòng)探針臺(tái)是一種用于微納電子、材料科學(xué)等領(lǐng)域的研究設(shè)備。它通過手動(dòng)操作，使探針精確接觸樣品表面，進(jìn)行電學(xué)、力學(xué)或光學(xué)等性質(zhì)的測(cè)量。該設(shè)備具有操作靈活、成本低廉的特點(diǎn)，適用于初步探索和研究。用戶可根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求，調(diào)整探針位置和力度，實(shí)現(xiàn)高精度的樣品測(cè)試。手動(dòng)探針臺(tái)廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件測(cè)試、材料表面形貌分析等場(chǎng)合，是科研人員和工程師們不可或缺的工具之一。

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手動(dòng)探針臺(tái)問答

2020-05-12 10:58:29手動(dòng)探針臺(tái)用途: 探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。手動(dòng)探針臺(tái)的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析，抽查測(cè)試等用途。手動(dòng)探針臺(tái)應(yīng)用領(lǐng)域：Wafer level reliability晶元可靠性認(rèn)證Process modeling塑性過程測(cè)試(材料特性分析)Package part probing IC封裝階段打線品質(zhì)測(cè)試PC board probing PC主板的電性測(cè)試Microwave probing 微波量測(cè)(高頻)LED、OLED、LCD領(lǐng)域檢測(cè)分析

2023-07-31 16:55:12微電容單通道叉指電極真空探針臺(tái)用途介紹: 叉指微電極因其微小的電極間距結(jié)構(gòu)，可用于各種小型化傳感器。對(duì)于傳統(tǒng)分析檢測(cè)，包括色譜法、光譜法、質(zhì)譜等方法，大多都需要昂貴的儀器和多種操作步驟，使得許多實(shí)際問題仍面臨困難。開發(fā)高靈敏度、低成本、小型化的傳感器尤為重要。本文綜述了叉指微電極的研究進(jìn)展，介紹了基于叉指微電極的傳感器在各領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用。小型真空探針臺(tái)鄭科探 KT-Z4019MRL4T是一款性高價(jià)比配置的真空高低溫探針臺(tái)。高溫400℃ 低-196℃ 測(cè)試噪聲小于5E-13A 可擴(kuò)展上下雙透視窗口用于光電測(cè)試可擴(kuò)展凹視鏡。公司致力于各類探針臺(tái)，（包括手動(dòng)與自動(dòng)探針臺(tái)、雙面探針臺(tái)、真空探針臺(tái)、）、顯微鏡成像、光電一體化的技術(shù)研發(fā)，擁有國(guó)內(nèi)專業(yè)的技術(shù)研發(fā)團(tuán)隊(duì)，在探針臺(tái)電學(xué)量測(cè)方面擁有近十年的經(jīng)驗(yàn)團(tuán)隊(duì)。微電容單通道叉指電極探針臺(tái)微電容單通道叉指電極探針臺(tái)KT-Z4019MRL4T真空腔體類型高溫型室溫到400℃高低溫型室溫到400℃ 室溫到-196℃腔體材質(zhì)304不銹鋼 6061鋁合金可選腔體內(nèi)尺寸127mmX57mmX20mm腔體外尺寸150mmX80mmX32mm腔體重量不銹鋼材質(zhì) 約1.5KG 鋁合金材質(zhì) 約0.5KG腔體上視窗尺寸Φ42mm（可選配凹視窗用于減少窗口和樣品之間距離）腔體抽氣口KF16法蘭（其余接口規(guī)格可轉(zhuǎn)接）腔體真空測(cè)量口KF16法蘭（其余接口規(guī)格可轉(zhuǎn)接）腔體進(jìn)氣口6mm快擰或 6mm快插腔體冷卻方式腔體水冷+上蓋氣冷腔體水冷接口腔體正壓≤0.05MPa腔體真空度機(jī)械泵≤5Pa （5分鐘）分子泵≤5E-3Pa（30分鐘）樣品臺(tái)樣品臺(tái)材質(zhì)不銹鋼銀銅合金純銀塊銀銅合金純銀塊樣品臺(tái)尺寸26x26mm樣品臺(tái)加熱方式電阻加熱電阻加熱液氮制冷樣品臺(tái)-視窗距離11mm（可選配凹視窗用于減少窗口和樣品之間距離到6mm）樣品臺(tái)測(cè)溫傳感器PT100型熱電阻樣品臺(tái)溫度室溫到400℃室溫到400℃ 室溫到-196℃樣品臺(tái)測(cè)溫誤差±0.5℃樣品臺(tái)升溫速率高溫100℃/min 值低溫7℃/min溫控儀溫度顯示7寸人機(jī)界面溫控類型標(biāo)準(zhǔn)PID溫控 +自整定溫度分辨率0.1℃溫控精度±0.5℃溫度信號(hào)輸入類型PT100 （可選K S B型熱電偶）溫控輸出直流線性電源加熱直流線性電源加熱+液氮流速控制器輔助功能溫度數(shù)據(jù)采集并導(dǎo)出實(shí)時(shí)溫度曲線+歷史溫度曲線可擴(kuò)展真空讀數(shù)接口溫控器尺寸32cmX170cmX380cm溫控器重量約5.6KG探針電信號(hào)接頭配線轉(zhuǎn)接 BNC接頭 BNC三同軸接頭 SMA 接頭香蕉插頭線長(zhǎng)1.2米電學(xué)性能絕緣電阻 ≥4000MΩ 介質(zhì)耐壓 ≤200V 電流噪聲 ≤10pA探針數(shù)量4探針（可擴(kuò)展5探針）探針材質(zhì)鍍金鎢針（其他材質(zhì)可選）探針尖10μm手動(dòng)探針移動(dòng)平臺(tái)X軸移動(dòng)行程20mm ±10mm（需手動(dòng)推動(dòng)滑臺(tái)）X軸控制精度≥500μmR軸移動(dòng)行程120° ±60°（需手動(dòng)旋轉(zhuǎn)探針桿）R軸控制精度≥500μmZ軸移動(dòng)行程2mm ±1mmZ軸控制精度≤50μm（需手動(dòng)螺紋調(diào)節(jié)探針桿）

2023-07-29 15:20:25高低溫探針臺(tái)-解釋塞貝克系數(shù)測(cè)量原理及系數(shù): 塞貝克系數(shù)（Seebeck Coefficient）也稱為熱電偶效應(yīng)或Seebeck效應(yīng)，是指兩種不同導(dǎo)體（或半導(dǎo)體）材料在一定溫差下產(chǎn)生熱電動(dòng)勢(shì)的現(xiàn)象。塞貝克系數(shù)是研究熱電材料（將熱能轉(zhuǎn)化為電能的材料）非常重要的一個(gè)參數(shù)，它用來衡量材料在一定溫差下產(chǎn)生的熱電壓。塞貝克系數(shù)的測(cè)量方法有很多種，其中一種常用的方法是恒流法。首先準(zhǔn)備一個(gè)熱電偶，它由兩種不同材料的導(dǎo)線組成。然后將熱電偶的其中一個(gè)節(jié)點(diǎn)保持在恒定的高溫T1，而另一個(gè)節(jié)點(diǎn)保持在低溫T2（不同于T1），使熱電偶產(chǎn)生熱電動(dòng)勢(shì)（熱電壓）。通過測(cè)量恒流狀態(tài)下的電壓值V以及溫差ΔT，可以計(jì)算出塞貝克系數(shù)： S = V / ΔT。另外，還有一些其他的測(cè)量方法如閉環(huán)法、開路法等，各種方法都有其優(yōu)缺點(diǎn)，具體選擇哪種方法取決于實(shí)際的測(cè)試環(huán)境和需求。解釋塞貝克系數(shù)測(cè)量原理。塞貝克系數(shù)（也稱為Seebeck系數(shù)）是一個(gè)描述一個(gè)材料熱電效應(yīng)特性的參數(shù)，具體地說，它表示了一個(gè)材料中的電流與橫向溫差將產(chǎn)生的電壓之間的關(guān)系。測(cè)量塞貝克系數(shù)的原理主要基于Seebeck效應(yīng)。Seebeck效應(yīng)是指在一種導(dǎo)體材料中，當(dāng)兩個(gè)不同導(dǎo)體之間有一個(gè)溫差時(shí)，將產(chǎn)生一個(gè)電壓。測(cè)量塞貝克系數(shù)的實(shí)驗(yàn)裝置通常包括以下部分：1. 絕熱材料底座：確保測(cè)試樣品的溫度穩(wěn)定。2. 樣品夾持器：保持測(cè)試樣品的固定。3. 加熱器：用于在樣品的一端創(chuàng)建溫差，從而在樣品中產(chǎn)生Seebeck電壓。4. 冷卻器：在樣品的另一端保持較低的溫度。5. 熱電偶：用于測(cè)量樣品兩端的溫差。6. 電壓測(cè)量?jī)x器：用于測(cè)量生成的Seebeck電壓。在測(cè)量過程中，首先將測(cè)試樣品固定在夾持器中，然后通過在樣品的一端加熱和在另一端冷卻來創(chuàng)建穩(wěn)定的溫差。Seebeck電壓將在樣品兩端形成，然后可以使用電壓測(cè)量?jī)x器將其測(cè)量出來。計(jì)算塞貝克系數(shù)所需的公式是： Seebeck系數(shù) = (產(chǎn)生的電壓) / (熱電偶測(cè)量的溫差) 通過測(cè)量此特定溫差下生成的Seebeck電壓，我們可以計(jì)算出材料的塞貝克系數(shù)。

2023-07-08 15:42:40真空高低溫探針臺(tái) 用于傳感器半導(dǎo)體光電集成電路以及封裝的測(cè)試: 型號(hào) KT-0904T-RL 加熱制冷 KT-0904T 不帶加熱制冷 KT-0904T-R 加熱類型加熱型 400℃ 加熱制冷型室溫到-190℃-350℃ 低溫型：室溫到-190℃ 腔體材質(zhì) 304 不銹鋼腔體內(nèi)尺寸 φ90x40mm 腔體上視窗尺寸 Φ42mm（選配凹視窗Φ22mm）腔體抽氣口 KF16 腔體進(jìn)氣口公制 3mm 6mm 氣管接頭英制 1/8mm 1/4mm 氣管接頭可選腔體出氣口公制 3mm 6mm 氣管接頭英制 1/8mm 1/4mm 氣管接頭可選腔體正壓 ≤0.05MPa 腔體真空度機(jī)械泵≤5Pa （5 分鐘）分子泵≤5E-3Pa（30 分鐘）樣品臺(tái) 樣品臺(tái)材質(zhì) 304 不銹鋼樣品臺(tái)尺寸 26X26mm 樣品臺(tái)-視窗距離 30mm（可選凹視窗間距 15mm）樣品臺(tái)測(cè)溫傳感器 A 級(jí) PT100 鉑電阻樣品臺(tái)溫度室溫到 350℃（可選高低溫樣品臺(tái) 高溫 350℃低溫-190℃）樣品臺(tái)測(cè)溫誤差 ±0.2℃ 樣品臺(tái)變溫速率高溫 10℃/min 低溫 5℃/min 溫控儀

2025-04-23 14:15:17接觸角測(cè)量?jī)x探針怎么調(diào): 接觸角測(cè)量?jī)x探針的調(diào)整是確保測(cè)量精度和儀器性能的關(guān)鍵步驟。在進(jìn)行接觸角測(cè)量時(shí)，探針的正確調(diào)整可以顯著影響測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性與一致性。本文將詳細(xì)介紹如何調(diào)節(jié)接觸角測(cè)量?jī)x的探針，以確保測(cè)量過程中各項(xiàng)參數(shù)的佳配置，并幫助用戶避免常見的操作失誤。通過正確的操作，不僅能提高測(cè)量效率，還能延長(zhǎng)儀器的使用壽命。因此，掌握探針調(diào)整的技巧，對(duì)每一位使用接觸角測(cè)量?jī)x的工程師和技術(shù)人員來說，都是至關(guān)重要的。接觸角測(cè)量?jī)x探針的調(diào)整通常涉及多個(gè)方面，其中包括探針的垂直度、位置以及與樣品表面接觸的角度。為了確保探針能夠精確地接觸到樣品表面，必須調(diào)整儀器的探針支撐架。通過調(diào)節(jié)支撐架的角度和高度，可以保證探針始終與樣品表面垂直，從而減少因角度不準(zhǔn)確引起的測(cè)量誤差。接觸角測(cè)量?jī)x的探針必須精確定位，以確保每次實(shí)驗(yàn)中探針與液滴接觸的條件一致。通常，這需要通過微調(diào)螺絲來實(shí)現(xiàn)精細(xì)定位，確保探針的每次接觸位置不會(huì)偏離設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)位置。如果探針位置發(fā)生偏差，液滴的分布情況將不均勻，從而影響接觸角的準(zhǔn)確度。在進(jìn)行探針調(diào)整時(shí)，還需要考慮環(huán)境因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，例如溫度、濕度以及空氣流動(dòng)等。任何這些因素的變化都可能導(dǎo)致測(cè)量值的波動(dòng)。因此，在調(diào)節(jié)探針時(shí)，確保操作環(huán)境穩(wěn)定，也是確保接觸角測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確性的重要步驟。接觸角測(cè)量?jī)x探針的調(diào)節(jié)是確保實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)可靠性的基礎(chǔ)。通過合理的調(diào)整方法和操作技巧，能夠有效地提高測(cè)量精度，并保證每次實(shí)驗(yàn)結(jié)果的一致性。在實(shí)際操作中，專業(yè)人員應(yīng)根據(jù)儀器的具體要求和操作手冊(cè)，謹(jǐn)慎調(diào)整探針的各項(xiàng)參數(shù)，避免因不當(dāng)調(diào)整導(dǎo)致測(cè)量誤差。