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    2025-01-21 09:29:31薄膜FP法
    薄膜FP法是一種利用法布里-珀羅(Fabry-Pérot,簡稱FP)干涉儀原理來測量薄膜厚度和折射率的方法。該方法通過觀測光波在薄膜中的多次反射和干涉現(xiàn)象,分析干涉條紋的變化,從而精確計(jì)算出薄膜的光學(xué)參數(shù)。FP法具有高精度和非接觸式測量的優(yōu)點(diǎn),廣泛應(yīng)用于光學(xué)薄膜、半導(dǎo)體材料等領(lǐng)域,是薄膜表征的重要手段之一。

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