
- 2025-01-21 09:37:28掃描電鏡( SEM)
- 掃描電鏡(SEM)是一種高分辨率的顯微鏡,利用聚焦電子束掃描樣品表面,收集二次電子、背散射電子等信號(hào)成像,以觀察樣品的微觀形貌和結(jié)構(gòu)。其具有高分辨率、大景深、樣品適應(yīng)性強(qiáng)等特點(diǎn),廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域。SEM能提供樣品表面的三維形貌信息,且樣品制備相對(duì)簡(jiǎn)單,是納米科學(xué)研究中的重要分析工具。通過SEM,研究者可直觀了解樣品的微觀特征,為科研和工業(yè)生產(chǎn)提供有力支持。
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