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    μMLA桌面無掩模光刻機(jī)

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    詳細(xì)介紹

    μMLA桌面無掩模光刻機(jī)

     

    桌面型光刻機(jī)μMLA   技術(shù)參數(shù)


    直寫模式 I*直寫模式 II*
    寫入性能(光柵掃描和矢量曝光模式)

    最小結(jié)構(gòu)尺寸 [μm]0.61
    最小線寬/線隙 [半寬, μm]0.81.5

    第二層對準(zhǔn)

    大于 5 x 5 mm2 [3σ, nm]

    500500

    第二層對準(zhǔn)

    大于  50 x 50 mm2 [3σ, nm]

    10001000
    直寫性能 光柵掃描曝光模

    線寬變代 [3σ, nm]200300
    最 大直寫速率 [mm2/min]1030

    可選“可變分辨率光柵掃描曝光模塊”的寫入速度(UMVAR),

    適用于不同最小結(jié)構(gòu)尺寸。

     10 mm2/min

      at 0.6 μm

     30 mm2/min

     at 1 μm


    20 mm2/min

     at 1 μm

    60 mm2/min

     at 2 μm


    25 mm2/min

    at 2 μm

     

    100 mm2/min

      at 4 μm

    矢量曝光模式直寫寫性能

    矢量模式下的地址網(wǎng)格 [nm]2020
    邊緣粗糙度 [3σ, nm]3050
    線寬變化 [3σ, nm]7080
    最 大線性直寫速率200 mm/s200 mm/s
    系統(tǒng)參數(shù)

    最 大襯底尺寸5″ x 5″5″ x 5″
    最小襯底尺寸

     

    5 mm x 5 mm

     

    5 mm x 5 mm

    基板厚度0.1 to 12 mm0.1 to 12 mm

    光柵掃描模塊矢量曝光模塊
    光源LED; 390 nm or 365 nmLaser; 405 nm and/or 375 nm



     

     

    系統(tǒng)尺寸(光刻單元)

     

    μMLAWidthDepthHeightWeight
    主機(jī)630 mm (25″)800 mm (31.5″)530mm (21″)100 kg (220 lbs)
    可選配防振表1400mm (55″)700 mm (28″)750 mm (30″)350 kg (770 lbs)

     

     

    無掩模光刻機(jī)于2015年S次推出。從那時起,先進(jìn)的無掩膜技術(shù)已經(jīng)確立。μMLA提供了新一代的桌面激光光刻工具:  配置設(shè)置精確到您的需要與光柵掃描和矢量掃描模式(或兩者)和可變分辨率的記錄磁頭。

     

    在許多應(yīng)用中,傳統(tǒng)的光掩膜已經(jīng)成為過去,因?yàn)槟愕脑O(shè)計文件是通過二維空間光直接暴露在電阻涂層晶圓上的調(diào)制器(SLM)。μMLA是MLA100的直接繼承者,是“小”MLA150,是我們先進(jìn)的無掩模對準(zhǔn)器的兄弟,它是許多多用戶設(shè)備、納米制造實(shí)驗(yàn)室和國家研究所中值得信賴、不可或缺的主力。

       

    在我們?nèi)碌娜腴T級系統(tǒng)μMLA的開發(fā)過程中,我們引入了諸如可變解決方案等新特性,并創(chuàng)建了一個靈活且高度可定制的桌面系統(tǒng)。當(dāng)然,小樣本處理很簡單。μMLA功能保留了以前的桌面系統(tǒng)優(yōu)點(diǎn),同時提供更多的選擇和更高的性能比以往任何時候。

    應(yīng)用包括研究和發(fā)展的領(lǐng)域,如MEMS,微流體,微光學(xué)和所有其他領(lǐng)域,負(fù)擔(dān)得起,緊湊,和強(qiáng)大的模式基因rator微結(jié)構(gòu)是必需的。

     

    APPLICATIONS 應(yīng)用程序

    微光學(xué):二元衍射光學(xué)元件。設(shè)計由1個μm2正方形組成。

    μMLA提供了一個標(biāo)準(zhǔn)的灰度模式,這可以制造低創(chuàng)造的微鏡頭。防蝕膠:15 μm厚AZ4562。節(jié)距30 μm,曲率半徑16 μm。

    CUSTOMIZE YOUR μMLA 定制您的μMLA

     

    兩種曝光模式

    μMLA可以讓你選擇光柵掃描曝光模式和矢量模式,或者甚至在同一個系統(tǒng)上運(yùn)行曝光模式! 光柵掃描曝光模式快速,并提供優(yōu)秀的圖像質(zhì)量和保真度,而寫入時間獨(dú)立于結(jié)構(gòu)尺寸或圖案密度。矢量掃描模式可以幫助暴露由曲線組成的設(shè)計,當(dāng)需要平滑的輪廓。雖然矢量模式產(chǎn)生的圖像質(zhì)量與光柵掃描曝光模式相似,但它不能達(dá)到同樣的寫入速度,特別是對于高填充系數(shù)的模式。

     

    A Choice of Wavelengths 波長的選擇

    因此,你可以在一個系統(tǒng)上使用多達(dá)三個不同波長(LED和/或激光二極管)。

     

    Variable Resolution 可變分辨率

    我們新開發(fā)的可變分辨率函數(shù)允許您為一個部分的編寫模式選擇三種不同的分辨率。只需在軟件菜單中選擇解決方案,并為您的應(yīng)用程序優(yōu)化參數(shù)。

     

    The Surface at One Glance

    可選的概述相機(jī)提供了一種簡單的方法來定位對準(zhǔn)標(biāo)記或其他特征感興趣的基板上。

     

    Small Sample Handling 小樣本處理

    小樣品處理是直接與μMLA:    光學(xué)自動對焦選項(xiàng)允許準(zhǔn)確曝光,直到樣品的邊緣。

     




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