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J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)(LA)
- 品牌:美國(guó)ASI
- 型號(hào): J200(LA)
- 產(chǎn)地:美洲 美國(guó)
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià):¥110
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北京冠遠(yuǎn)科技有限公司
更新時(shí)間:2025-01-06 13:35:28
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銷售范圍售全國(guó)
入駐年限第7年
營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)(2件)
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產(chǎn)品特點(diǎn)
- J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)(LA)術(shù)可靠性提升到一個(gè)新高度,可應(yīng)用于礦物元素定量分析、鋯石U-Pb定年、礦物熔體和流體包裹體分析、微區(qū)同位素分析和定年技術(shù)研究等地質(zhì)研究領(lǐng)域,并在所有采樣點(diǎn)上實(shí)現(xiàn)一致的激光剝蝕,這一創(chuàng)新的傳感器特性是由應(yīng)用光譜公司科學(xué)團(tuán)隊(duì)研發(fā)的一項(xiàng)技術(shù),具備三種照明模式來(lái)提高圖像質(zhì)量和對(duì)比度:擴(kuò)散式LED光源,透射光和同軸反射光,光的強(qiáng)度和顏色可控。
詳細(xì)介紹
J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)(LA)術(shù)可靠性提升到一個(gè)新高度,可應(yīng)用于礦物元素定量分析、鋯石U-Pb定年、礦物熔體和流體包裹體分析、微區(qū)同位素分析和定年技術(shù)研究等地質(zhì)研究領(lǐng)域,并在所有采樣點(diǎn)上實(shí)現(xiàn)一致的激光剝蝕,這一創(chuàng)新的傳感器特性是由應(yīng)用光譜公司科學(xué)團(tuán)隊(duì)研發(fā)的一項(xiàng)技術(shù),具備三種照明模式來(lái)提高圖像質(zhì)量和對(duì)比度:擴(kuò)散式LED光源,透射光和同軸反射光,光的強(qiáng)度和顏色可控。
采樣模式優(yōu)勢(shì):
系統(tǒng)軟件提供大的視頻窗口,顯示清晰的、詳細(xì)的樣品圖像。分析人員可以在樣品圖像上設(shè)計(jì)任意的激光采樣模式,包括光柵線、曲線、直線、隨機(jī)點(diǎn)、任意尺寸網(wǎng)格或預(yù)先編制的模式。甚至樣品上具有挑戰(zhàn)性形狀的結(jié)構(gòu)也可以使用Axiom的模式生成工具進(jìn)行突出顯示,并精確分析元素或同位素含量。
設(shè)備優(yōu)勢(shì):
1、J200飛秒激光進(jìn)樣系統(tǒng)可與市面上的普通四級(jí)桿質(zhì)譜儀;
2、飛秒激光源技術(shù)已經(jīng)應(yīng)用于醫(yī)療領(lǐng)域;
3、組裝方式簡(jiǎn)單,方便對(duì)輸氣管道進(jìn)行定期清理;
4、主要成分分析、包裹體分析、高分辨率深度剖析、元素映射,等等。
J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)(LA)具有直觀友好的圖形用戶界面,可瀏覽不同樣品區(qū)域,并建立靈活的激光采樣方案,甚至樣品上具有挑戰(zhàn)性形狀的結(jié)構(gòu)也可以使用Axiom的模式生成工具進(jìn)行突出顯示,并精確分析元素或同位素含量,然后使用保存的圖像導(dǎo)航不同的樣品位置,觀察高倍放大的選定點(diǎn),以提供高度自動(dòng)化的檢測(cè)體驗(yàn)。我們只需“調(diào)出”整個(gè)方案以重復(fù)實(shí)驗(yàn),或者復(fù)制方案的一部分,將其與新的指令結(jié)合起來(lái),以解決新的采樣方案。