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    德國 Zeiss 蔡司 偏光顯微鏡 Axio Imager

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    產(chǎn)品特點

    AXIO IMAGER偏光觀察顯微鏡的自動組件識別技術(shù)值得信賴,借助 AXIO IMAGER 出色的穩(wěn)定性得以實現(xiàn)可隨時間變化的測量和高放大倍率觀察。物鏡轉(zhuǎn)盤、Z 軸升降臺和載物臺被設(shè)計為一個緊湊式無振動單元,獨立于主機(jī)架的其余部分。

    詳細(xì)介紹

     

    image.png

     

    程序簡便、操作可靠

    您是否正在尋找一款能夠完成復(fù)雜任務(wù)、生成可靠檢測結(jié)果且易于操作的顯微鏡?那么用于偏光顯微觀察的智能型 Axio Imager 將是您的滿意之選。

     

    不同種主機(jī)架可供選擇

    編碼型、部分電動型或全電動型主機(jī)組合搭配,滿足您的個性化需求。

     

    自動組件識別技術(shù)值得信賴

    自動組件識別(Automatic Component Recognition ACR)技術(shù),使您方便的使用顯微鏡設(shè)置。所有電動主機(jī)架能夠自動識別物鏡。此外,ACR 技術(shù)還能在全電動 Z 系列主機(jī)中識別反射光模塊。系統(tǒng)能自動對組件的變換進(jìn)行登記。

     

    無振動設(shè)計確保可靠的長時間成像

    借助 Axio Imager 出色的穩(wěn)定性得以實現(xiàn)可隨時間變化的測量和高放大倍率觀察。物鏡轉(zhuǎn)盤、z 軸升降臺和載物臺被設(shè)計為一個緊湊式無振動單元,獨立于主機(jī)架的其余部分。這種所謂的 "stable cell" 結(jié)構(gòu)設(shè)計能夠創(chuàng)建理想的測量條件,以獲得超高質(zhì)量的觀測結(jié)果。

     

    擴(kuò)展功能令操作更舒適

    簡化復(fù)雜程序。通過主機(jī)架或外置工作站上的觸摸屏來控制全部電動化組件。

    保存?zhèn)€性化設(shè)置并實現(xiàn)一鍵還原。聚焦操作方便直觀 符合人體工程學(xué)設(shè)計的觸控式按鈕。

     

    或者通過任意擺放的控制面板(可完全與主機(jī)架分離)來操作偏光顯微系統(tǒng)。觀察方式和光路管理器能夠自動選擇合適的設(shè)置,以生成可重現(xiàn)且可靠的觀測結(jié)果。

     

    錐光觀察技術(shù):使用偏光顯微鏡可以實現(xiàn)快速可靠的晶體結(jié)構(gòu)分析

    偏光顯微鏡能夠同時采集無畸變的和錐光的圖像信息。采用特殊設(shè)計的偏光鏡筒通過輔助中間像平面可以使物體、十字準(zhǔn)線和可變光闌同時可見。通過調(diào)節(jié)型可變光闌能夠?qū)㈠F光觀測范圍縮小至 10μm 的晶體粒度。已對中的 Bertrand 光路方便開關(guān)。這一特性讓您在不同技術(shù)之間進(jìn)行快速切換 甚至在采集圖像或使用視頻設(shè)備時。

     

    始終如一的測量性能

    借助可 360° 刻度和 0.1° 的游標(biāo)尺的旋轉(zhuǎn)、球軸安裝式載物臺可以輕松實現(xiàn)測量,(例如:用于測量礦物的解理角)

    光程差測定或應(yīng)變測量

     

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    大量光譜補(bǔ)償器可選,涵蓋從 0 30 λ 的測量范圍。

    固定光程差的補(bǔ)償器

    全波片 λ

    四分之一波片 λ / 4

    全波片 λ,可旋轉(zhuǎn)角度 +/- 8°

     

    具有可變光程差的補(bǔ)償器

    光楔補(bǔ)償器 0-4 λ

    測量補(bǔ)償器

    - Berek 傾斜補(bǔ)償器 0-5 λ

    - Berek 傾斜補(bǔ)償器 0-30 λ

     

    Axio Imager 還可提供更多方法,例如:

    熱顯微技術(shù)

    使用蔡司 AxioVision 軟件進(jìn)行數(shù)字分析(例如:晶粒度分析或顆粒度分析)


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