Leica EM TXP 極ng確制樣系統(tǒng)

儀器簡(jiǎn)介：

Leica EMTXP- 精研一體機(jī) 徠卡EMTXP標(biāo)靶面制備系統(tǒng)具有定點(diǎn)修塊拋光功能，是用鋸，磨，銑削，拋光樣品后，供掃描電鏡，透射電鏡，和LM技術(shù)檢測(cè)。 帶有一體化體視鏡，用于精確定位及對(duì)較細(xì)微難以觀察的目標(biāo)位置進(jìn)行樣品處理時(shí)觀察；使用樣品旋轉(zhuǎn)手柄，可以改變樣品觀察角度，0°－60°可調(diào)，或者垂直于樣品前表面90°觀察，可利用目鏡刻度標(biāo)尺測(cè)量距離。 一體化自動(dòng)程序控制 一體化自動(dòng)程序控制，包括自動(dòng)左右制動(dòng)機(jī)制，前進(jìn)反饋力控制，倒計(jì)數(shù)功能等，為使用者節(jié)約大量時(shí)間。 表面光潔度和標(biāo)靶檢測(cè) 表面處理與目標(biāo)檢測(cè)，都通過(guò)一體化體視鏡來(lái)完成，用戶不需要專程將樣品拿出來(lái)再進(jìn)行表面觀察檢測(cè)，這可大大提高使用者的工作效率。 適配工具多樣性 可適配多種多樣工具，從而使樣品不經(jīng)轉(zhuǎn)移就可以進(jìn)行研磨，切割，鉆孔，打磨及拋光。并且整個(gè)處理過(guò)程都可通過(guò)體視鏡進(jìn)行觀察監(jiān)控，大大節(jié)省時(shí)間和費(fèi)用。 精研一體機(jī) 精研一體機(jī)，定點(diǎn)修塊，微電子失效分析，半導(dǎo)體失效分析 徠卡EMTXP標(biāo)靶面制備系統(tǒng)具有定點(diǎn)修塊拋光功能，是用鋸，磨，銑削，拋光樣品后，供掃描電鏡，透射電鏡，和LM技術(shù)檢測(cè)。

技術(shù)參數(shù)：

細(xì)小樣品制備精確可調(diào)步進(jìn)0.5,1,10或100微米

主要特點(diǎn)：

體視鏡現(xiàn)場(chǎng)觀察制樣情況
自動(dòng)程序操作鏡面效果制樣
切片,磨片,拋光機(jī)一體化設(shè)計(jì),簡(jiǎn)便,快捷
精確制樣,可精確定位

為您帶來(lái)的優(yōu)勢(shì)

一體化自動(dòng)程序控制

一體化自動(dòng)程序控制，包括自動(dòng)左右制動(dòng)機(jī)制，前進(jìn)反饋力控制，倒計(jì)數(shù)功能等，為使用者節(jié)約大量時(shí)間。

表面光潔度和標(biāo)靶檢測(cè)

表面處理與目標(biāo)檢測(cè)，都通過(guò)一體化體視鏡來(lái)完成，用戶不需要專程將樣品拿出來(lái)再進(jìn)行表面觀察檢測(cè)，這可大大提高使用者的工作效率。

適配工具多樣性

可適配多種多樣工具，從而使樣品不經(jīng)轉(zhuǎn)移就可以進(jìn)行研磨，切割，鉆孔，打磨及拋光。并且整個(gè)處理過(guò)程都可通過(guò)體視鏡進(jìn)行觀察監(jiān)控，大大節(jié)省時(shí)間和費(fèi)用。