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    孔洞檢測單元 C12570 series

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    產(chǎn)品特點


    C12570系列是孔洞檢測裝置,用于檢測層壓薄膜和金屬箔中的孔洞。 由于采用非接觸式光學(xué)檢測,被檢測的樣品不會暴露在液體或特殊環(huán)境的壓力中(例如電場、磁場和電解質(zhì)溶液)。


    C12570系列采用高靈敏度的光電倍增管,可以高精度地檢測微小的孔洞。


    詳細介紹

    產(chǎn)品特性

    ● 非接觸式檢測

    ? ?不會對工件產(chǎn)生任何壓力或沖擊


    高精度檢測微小孔洞

    ?? 使用高靈敏度光電倍增管可以檢測直徑最小為2μm的微小孔洞,最大速率為每分鐘30米,這是圖像傳感器圖像分析無法實現(xiàn)的。


    設(shè)定閾值(任何值)的孔洞檢測(* 1)

    ?? 檢測靈敏度和孔洞通過/未通過閾值可根據(jù)前控制面板進行任意調(diào)整。


    自我診斷功能

    ?? 檢查檢測器操作以確保檢查結(jié)果的高可靠性。


    保護電路,保護設(shè)備免受強光光照

    ?? 包括一個安全保護電路,即使在強光進入設(shè)備時也能最大限度地減少光照對探測器的損傷。


    有兩種不同光源位置可供選擇,以滿足您的應(yīng)用需求


    注意:無法識別孔洞的數(shù)量、大小和位置。

    檢測原理

    詳細參數(shù)

    應(yīng)用示例

    外形尺寸(單位:mm)

    技術(shù)資料

    廠商推薦產(chǎn)品

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